仿真文件传了一份到度盘：XXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXX
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关于Multisim的精度问题---较低THD下仿真的可靠度是否会下降？
简述一下问题：
最近在用Multisim仿真一个全差分放大，桥式输出的电路，是从一款已经验证过的单端输出全差分放大器修改过来的。问题出在仿真结果的THD数值上，比较蛋疼的是仿真得出的结果相当一般，负载为8欧的时候THD基本就掉到0.2%左右了，负载为330欧时还能有0.008%，以上都是10kHz正弦的结果。
然后设计者做出来的机器实测都是0.002x% @ 8欧，差的不是一点半点。链接：XXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXX
请教各位这类仿真软件是不是只能大概看看电路的工作点，有无震荡等基本的问题，对于这种精确求值的应用不太适合？
谢谢！
最近在用Multisim仿真一个全差分放大，桥式输出的电路，是从一款已经验证过的单端输出全差分放大器修改过来的。问题出在仿真结果的THD数值上，比较蛋疼的是仿真得出的结果相当一般，负载为8欧的时候THD基本就掉到0.2%左右了，负载为330欧时还能有0.008%，以上都是10kHz正弦的结果。
然后设计者做出来的机器实测都是0.002x% @ 8欧，差的不是一点半点。链接：XXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXX
请教各位这类仿真软件是不是只能大概看看电路的工作点，有无震荡等基本的问题，对于这种精确求值的应用不太适合？
谢谢！
引用 灬小猫:呃呃，情况应该反过来的吧？仿真里面要验证参数随机性影响要专门搞个XX分析制造偏差的，实际中能配对好差分对都谢天谢地了
有可能实际电路中放大用的管子是经过配对的，而仿真软件里同一个型号的管子参数有点随机
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