楼主最近在海鲜市场捡垃圾的时候，偶然看到了一个Fast SDD探测器，于是就买回来一探究竟

收到一个蓝色的盒子，fast sdd探测器就躺在里面

型号是“XR-100FAST”，探头的型号是HSH3AMD-G2SP，鉴定为25mm^2 灵敏面积，0.5mm厚度，窗口为0.5密尔Be的FAST SDD探测器，铍窗镀有聚对二甲苯（用于防止气体扩散）

炫彩铍窗

盒子里有一张原厂的质检报告，测的是Fe-55的Mn双峰（其实就是dppmca软件截图并附上设置参数）

对5894.95eV分辨率为130.3eV，成型时间1.0微秒，符合原厂标准。

Fsat SDD探测器不同于普通SDD探测器，它在TO-8封装内使用了CMOS前置放大器，并用MOSFET替换了JFET，这显著降低了电容，降低了噪声，并在短成峰时间下实现了高分辨率，官网声称可以在大于1Mcps的计数率下正常工作，这么高的计数率下，数据采集可能一秒都用不到就采集完毕了。

然后迫不及待得连上dp5多道（在此特别感谢友人提供的负电压pc5电源）

喜闻乐见的烟感（横坐标为道址）

13.95keV分辨率为1.42%，优于SiPin的2.17%

接下来就是一些常见样品的荧光光谱，再次感谢朋友打印的准直器，楼主使用了sunje的软x射线除静电模块（11keV 280uA）配3D打印的准直器，使用表面沾污仪Como170测得在1m以外的beta&gamma剂量率低于30cps，完全在安全范围内。

不锈钢，镍的Kb荧光峰接近x射线的连续谱峰值，故峰背比不佳

Mn 双峰，该能量下的分辨率被用于衡量xrf探测器性能

前面的Ar干扰峰也清晰可见，后面小山丘是软x射线的韧致辐射连续谱，最高能量在10.8keV附近。

那么接下来开始测试更低能的荧光峰，图示样品为氯化钾，依旧有空气的Ar干扰

再下一层楼：Al荧光峰（1488eV）

到此能量已经接近0.5mil铍窗极限了，楼主测试了氟树脂，但是并未观测到F荧光峰

查阅了官网资料，0.5milBe对F荧光x射线的透过率为1%，可以认为此探测器能够测量的最低下限是Na了（Ne样品较难取得）

如果需要测量第一周期主族元素，则需要使用C1甚至C2窗口。

那么如何得知该探测器的测量下限呢？楼主测试了硫样品，在570eV附近得到了“硫逃逸峰”，分辨率为54eV

继续调低LLD，最终测得在110eV附近暴涨的电子学噪声，看来捅破铍窗也测不到Li的Ka啊

硫的Ka Kb逃逸峰都清晰可见

多元素样品的xrf图

最后一张图是在高计数率下（743kcps）的xrf谱图，可以看到因为计数率极高，和峰已经不可忽略了，且成形时间也来到了0.4微秒

在如此高的计数率下，@6.4keV FWHM为139eV，依然保持着不错的水平（但是对比1.6&4.0微秒依然有所下降）

测试到此，该fast sdd探测器的性能完全符合原厂标准。

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