靠实作凑试效率极低，在KC是会被鄙视的陈旧办法。要么用仿真，要么把理论折腾明白。

楼主可以研究一下，为什么不等臂电桥的巴伦通常在输入端，如果检测端用巴伦，只适合于等臂电桥，而在不等臂电桥中，方向性会随着频率升高近乎线性（对数刻度下）的下降，就如你的测试图片那样一根漂亮的斜线。而现代芯片电桥则是放弃了巴伦，而采用差分器件进行检测，在不等臂电桥中，差分器件采用高阻输入，若采用50欧（等低阻）输入，依然不能避免此问题。

这是现代电桥的精髓问题，如果楼主想明白了，也许会找到解决办法，这就是创新了。