伦琴射线发生器资料贴
最近研究火箭发动机及燃料探伤问题,刚好发现一台伦琴射线发生器可以用,有点兴趣,网上找了些资料转帖在这里慢慢看。


  “别人要是知道我在干什么,肯定会说‘伦琴是个疯子’。”在给朋友的信里,威廉·康拉德·伦琴(Wilhelm Conrad Rontgen)写道。一年前,他被选任为德国维尔茨堡大学校长,但这位校长,大部分时间都耗在自己昏暗的实验室里。尤其是1895年11月8日之后,伦琴甚至把床都搬进了实验室,埋头做了6个星期的实验。

  他的妻子还发现丈夫的情绪异常激动,但激动的原因,丈夫始终缄口不言。这些都让妻子不满。

  实际上,这个50岁的男人在11月8日那天,偶然发现了一种射线。

  “如果把手置于放电装置和荧光屏之间,就可以看到在较淡的手影里露出深暗的骨骼阴影。”在当年年底提交的论文《一种新射线(初步通信)》里,伦琴描述道。这种从放电管发出的穿透力很强的射线,伦琴自己也搞不清楚,他称其为“X射线”。

  1896年1月4日,这种未知的射线,让参加柏林物理学会会议的人们大开眼界。伦琴在会上展示了他的X射线照片。

  第二天,维也纳的一家报纸报道了伦琴的发现。这一消息迅速传遍了世界,也惊动了普鲁士国王。9天之后,伦琴受邀前往王宫演示X射线。

  国王的邀请,令伦琴多少有些紧张。他不断祈祷自己“使用这个管子时将托皇帝之福,遇上好运气”。演示最终顺利完成,在与国王一同进餐后,伦琴被授予二级王冠勋章。不过,在离开时,他需要退着走出来,以示对国王的尊敬。

  国王可能怎么也不会想到,这个正从自己眼前缓缓离去的男人,在34年前曾一度被中学开除,差点断了求学之路。

  17岁那年,班里有同学画了一幅长着大鼻子的画像来讽刺老师,结果画像被老师发现。老师追查时,伦琴既不承认是自己画的,也拒绝“检举”同学。这激怒了老师,伦琴被学校勒令退学。

  在他的父亲看来,儿子的求学之路算是完了,父亲打算让儿子跟自己一起经营祖传的呢绒店,但儿子拒绝了,他还想上学。

  幸运的是,那时苏黎世联邦工学院在招收学生时,只要求学生进行入学考试,而无须出示中学毕业文凭。

  于是,这个未能从高中毕业的学生,进入了大学校园。在那里,伦琴以优异的成绩取得了博士学位。然后,他决定做自己的老师、德国物理学家孔特的助手。

  只是在同老师争论时,这个年轻气盛的助手甚至会摔门而去。但在做老师安排的实验时,伦琴常常极为严格和专注。

  “实验是我们揭开自然界奥秘的最有力、最可靠的手段。”在1894年出任校长的演说中,伦琴这样告诫他的学生们。

  也正是实验让伦琴发现了新的射线。在发现X射线后的数月中,伦琴曾收到世界各地的讲学邀请。他给请他的同行写信表达歉意,“没有时间做任何讲演”,因为要继续自己的实验。

  不过,从王宫回来10天后,伦琴在自己的研究所里作了一场报告。解剖学教授克里克尔当场要求伦琴给他的手拍摄X射线照片。当看到自己手部骨骼的样子时,教授不仅立刻带头向伦琴欢呼三次,还激动地建议把这一射线命名为“伦琴射线”。这得到了现场听众的同声支持,却遭到了伦琴的拒绝。

  更为坚决的拒绝,发生在柏林通用电气协会建议以高价换取伦琴的新发现的专利权时。

  “不是我发明了X射线,它千古以来就存在着,我仅仅是‘发现’了它而已。因此X射线属于全人类,而非我个人的私产。”伦琴告诉对方。这也让X射线最终得到了广泛应用。

  “他的实验室里那扇对着专利部门的窗户,永远是关闭的。”伦琴的行为也令美国科学家同行感叹不已。

  1901年,第一届诺贝尔物理学奖评选时,伦琴被推举为第一位获此殊荣的人。伦琴接受学院邀请,前往斯德哥尔摩领奖,但在当晚的获奖者中,他是唯一一个没有发表获奖感言的人。

  这个沉默的获奖者回到德国后,巴伐利亚政府决定授予他皇冠勋章,伦琴接受了勋章,但拒绝勋章所附带的贵族称号,也拒绝了皇家物理技术局主席的职位。

  “无论从哪种意义上讲,他都是19世纪理想的化身:坚强、诚实而有魄力……”好友鲍维利曾这样描述伦琴。在鲍维利眼里,自己的这位好友,“对人民、对记忆中的事物以及对理想具有一种少有的忠诚和牺牲精神”。

  其实,与“X射线之父”的称号相比,伦琴更称得上是固体物理学和材料物理学的创始人之一。他在这两方面做了大量的实验,一生中共发表了59篇学术论文,大多数与X射线无关。

  但由于发现X射线这一事件被视为经典物理学和现代物理学的分水岭,伦琴那丰富而动人的一生,从此被这种射线的光芒所遮掩。

  这种射线为他带来了诺贝尔奖,他则把奖金全部捐给了维尔茨堡大学,也放弃了自己的专利权。

  然而,第一次世界大战很快来临,通货膨胀,民不聊生,他原本就所剩无几的家产,也荡然无存。最终,这个78岁的老人在贫困中死于最初发生在手部的癌症。
来自:仪器与装备 / 核技术与仪器
虎哥 作者
10年7个月前
1楼
X射线的发现是19世纪末20世纪初物理学的三大发现(X射线1896年、放射线1896年、电子1897年)之一,这一发现标志着现代物理学的产生。X射线的发现为诸多科学领域提供了一种行之有效的研究手段。X射线的发现和研究,对20世纪以来的物理学以至整个科学技术的发展产生了巨大而深远的影响。

失之交臂

1836年,英国科学家迈克尔.法拉第(Michael Faraday,1791-1867)(见图) 发现,在稀薄气体中放电时会产生一种绚丽的辉光。后来,物理学家把这种辉光称为“阴极射线”,因为它是由阴极发出的。
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1861年,英国科学家威廉.克鲁克斯(William Crookes,1832-1919)(见图) 发现通电的阴极射线管在放电时会产生亮光,于是就把它拍下来,可是显影后发现整张干版上什么也没照上,一片模糊。他以为干版旧了,又用新干版连续照了三次,依然如此。克鲁克斯的实验室非常简陋,他认为是干版有毛病,退给了厂家。他也曾发现抽屉里保存在暗盒里的胶卷莫名其妙地感光报废了,他找到胶片厂商,指斥其产品低劣。一个伟大的发现与他失之交臂,直到伦琴发现了X光,克鲁克斯才恍然大悟。
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在伦琴发现X光的五年前,美国科学家古德斯柏德在实验室里偶然洗出了一张X射线的透视底片。但他归因于照片的冲洗药水或冲洗技术,便把这一“偶然”弃之于垃圾堆中。

发现X射线

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1895年10月,德国实验物理学家伦琴(Wilhelm Konrad Rontgen,1854~1923)(见图)也发现了干板底片“跑光”现象,他决心查个水落石出。伦琴吃住在实验室,一连做了7个星期的秘密实验。11月8日,伦琴用克鲁克斯阴极射线管做实验,他用黑纸把管严密地包起来,只留下一条窄缝。他发现电流通过时,两米开外一个涂了亚铂氰化钡的小屏发出明亮的荧光。如果用厚书、2-3厘米厚的木板或几厘米厚的硬橡胶插在放电管和荧光屏之间,仍能看到荧光。他又用盛有水、二硫化碳或其他液体进行实验,实验结果表明它们也是“透明的”,铜、银、金、铂、铝等金属也能让这种射线透过,只要它们不太厚。使伦琴更为惊讶的是,当他把手放在纸屏前时,纸屏上留下了手骨的阴影。伦琴意识到这可能是某种特殊的从来没有观察到的射线,它具有特别强的穿透力。伦琴用这种射线拍摄了他夫人的手的照片,显示出手的骨骼结构。(见图)
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1895年12月28日,伦琴向德国维尔兹堡物理和医学学会递交了第一篇研究通讯《一种新射线——初步报告》。伦琴在他的通讯中把这一新射线称为X射线(数学上经常使用的未知数符号X),因为他当时无法确定这一新射线的本质。

伦琴的这一发现立即引起了强烈的反响:1896年1月4日柏林物理学会成立50周年纪念展览会上展出X射线照片。1月5日维也纳《新闻报》抢先作了报道;1月6日伦敦《每日纪事》向全世界发布消息,宣告发现X射线。这些宣传,轰动了当时国际学术界,伦琴的论文在3个月之内就印刷了5次,立即被译成英、法、意、俄等国文字。X射线作为世纪之交的三大发现之一,引起了学术界极大的研究热情。此后,伦琴发表了《论一种新型的射线》、《关于X射线的进一步观察》等一系列研究论文。1901年诺贝尔奖第一次颁发,伦琴就由于发现X射线而获得了这一年的物理学奖[1]。

伦琴发现X射线使X射线研究迅速升温,几乎所有的欧洲实验室都立即用X射线管来进行试验和拍照。几个星期之后,X射线已开始被医学家利用。医生应用X射线准确地显示了人体的骨骼,这是物理学的新发现在医学中最迅速的应用。随后,创立了用X射线检查食道、肠道和胃的方法,受检查者吞服一种造影剂(如硫酸钡),再经X射线照射,便可显示出病变部位的情景。以后又发明了用于检查人体内脏其他一些部位的造影剂。X射线诊断仪在相当一个时期内一直作为医院中最重要的诊断仪器。

为纪念伦琴对物理学的贡献,后人也称X射线为伦琴射线,并以伦琴的名字作为X射线等的照射量单位。

偏振性及标识X射线

自伦琴发现X射线后,许多物理学家都在积极地研究和探索。

1897年,法国物理学家塞格纳克(XXXXXXXXgnac,1869-1926)发现X射线还有一种效应引人注目,当它照射到物质上时会产生二次辐射,这种二次辐射是漫反射,比入射的X射线更容易吸收。这一发现为以后研究X射线的性质作了准备。

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(巴拉克)
1906年英国物理学家巴克拉(Charles Glover Barkla,1877-1944)(见图)在塞格纳克的基础上做实验,他将X射线管发出的X射线以45°角辐照在散射物A上(见图),从A发出的二次辐射又以45°角投向散射物B,再从垂直于二次辐射的各个方向观察三次辐射,发现强度有很大变化,沿着既垂直于入射射线又垂直于二次辐射的方向强度最弱。由此巴克拉得出了X射线具有偏振性的结论。根据X射线的偏振性,人们开始认识到X射线和普通光是类似的。
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偏振性的发现对认识X射线的本质虽然前进了一大步,但还不足以判定X射线是波还是粒子,因为粒子也能解释这一现象,只要假设这种粒子具有旋转性就可以了。1907-1908年,一场关于X射线是波还是粒子的争论在巴克拉和英国物理学家亨利.布拉格(William Henry Bragg,1862-l942)(见图)之间展开。亨利.布拉格根据γ射线能使原子电离,在电场和磁场中不受偏转以及穿透力极强等事实,主张γ射线是由中性偶——电子和正电荷组成。他认为X射线也一样,并由此解释了已知的各种X射线现象。巴克拉坚持X射线的波动性。两人在科学期刊上展开了辩论,双方都有一些实验事实支持。这场争论虽然没有得出明确结论,但还是给科学界留下了深刻印象。巴克拉关于X射线的偏振实验和波动性观点可以说是后来劳厄发现X射线衍射的前奏。
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巴克拉最重要的贡献是发现了元素发出的X射线辐射都具有和该元素有关的特征谱线(也叫标识谱线)。巴克拉在实验中发现,不管元素已化合成什么化合物,它们总是发射一种硬度的X射线,当原子量增大时,标识X射线的穿透本领会随着增大。这说明X射线具有标识特定元素的特性。

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1909年,巴克拉和他的学生沙德勒(XXXXXXdler)在进一步的实验中发现,标识谱线其实并不均匀,它可以再分为硬的成分和软的成分。他们把硬的成分称为K线,把软的成分称为L线。每种元素都有其特定的K线和L线。这些谱线的吸收率与发射元素的原子量之间近似有线性关系,却跟普通光谱不同,不呈周期性。X射线标识谱线对建立原子结构理论极为重要。

巴克拉由于发现标识X射线在1917年获得了诺贝尔物理学奖[4]。

晶体X射线衍射

当时,X射线究竟是微小的质点束,还是像光一样的波状辐射,一直悬而未决。有一种鉴定方法就是看X射线能否借助含有一系列细线的衍射光栅而衍射(即改变射线方向)。要想得到适当的衍射,这些细线的间距必须大致与辐射线的波长大小相等。当时最密的人工衍射光栅,适用于一般光线。由X射线的穿透力得知,若X射线像波一样,则其波长要短得多——可能只有可见光波长的千分之一。制作如此精细的光栅完全是不可能的。

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德国物理学家劳厄(Max von Laue,1879-1960)(见图)想到,如果人工做不出这样的光栅,自然界中的晶体也许能行。晶体是一种几何形状整齐的固体,而在固体平面之间有特定的角度,并且有特定的对称性。这种规律是构成晶体结构的原子有次序地排列的结果。一层原子和另一层原子之间的距离大约是X射线波长的大小。如果这样,晶体应能使X射线衍射。
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劳厄的老板,物理学家阿诺德.索末菲(Arnold Sommerfeld,1868-1951)(见图)认为这一想法荒诞不经,劝说他不要在这上面浪费时间。但到了1912年,两个学生证实了劳厄的预言。他们把一束X光射向硫化锌晶体,在感光版上捕捉到了散射现象,即后来所称的劳厄相片。感光版冲洗出来之后,他们发现了圆形排列的亮点和暗点—衍射图(见图)。劳厄证明了X光具有波的性质。《自然》杂志把这一发现称为“我们时代最伟大、意义最深远的发现”。劳厄证明了X射线的波动性和晶体内部结构的周期性,发表了《X射线的干涉现象》一文。两年后,也就是1914年,这一发现为劳厄赢得了诺贝尔物理学奖[2]。
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劳厄发现X射线衍射有两个重大意义。它表明了X射线是一种波,对X射线的认识迈出了关键的一步, 这样科学家就可以确定它们的波长,并制作仪器对不同的波长加以分辨(与可见光一样,X射线具有不同的波长)。另一方面,这一发现在第二个领域结出了更为丰硕的成果,第一次对晶体的空间点阵假说作出了实验验证,使晶体物理学发生了质的飞跃。一旦获得了波长一定的光束,研究人员就能利用X光来研究晶体光栅的空间排列:X射线晶体学成为在原子水平研究三维物质结构的首枚探测器。这一发现继佩兰(Perrin)的布朗运动实验之后,又一次向科学界提供证据,证明原子的真实性。此后,X射线学在理论和实验方法上飞速发展,形成了一门内容极其丰富、应用极其广泛的综合学科。

晶体结构分析


劳厄的文章发表不久,引起了英国布拉格父子的关注,当时老布拉格,即亨利.布拉格(William Henry Bragg1862-1942)(见图)已是利兹大学的物理学教授,而小布拉格,即劳伦斯·布拉格(William Lawrence Bragg,1890-1971)(见图)刚从剑桥大学毕业,在卡文迪许实验室工作。由于都是X射线微粒论者,两人都试图用X射线的微粒理论来解释劳厄的照片,但他们的尝试未能取得成功。小布拉格经过反复研究,成功地解释了劳厄的实验事实。他以更简洁的方式,清楚地解释了X射线晶体衍射的形成,并提出著名的布拉格公式:2dsinθ=nλ。这一结果不仅证明了小布拉格的解释的正确性,更重要的是证明了能够用X射线来获取关于晶体结构的信息。

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1912年11月,小布位格以《晶体对短波长电磁波衍射》为题向剑桥哲学学会报告了上述研究结果。老布拉格于1913年1月设计出第一台X射线光谱仪(见图),并利用这台仪器,发现了特征X射线。



小布拉格在用特征X射线分析了一些碱金属卤化物的晶体结构之后,与其父亲合作,成功地测定出了金刚石的晶体结构,并用劳厄法进行了验证。金刚石结构的测定完美地说明了化学家长期以来认为的碳原子的四个键按正四面体形状排列的结论。这对尚处于新生阶段的X射线晶体学来说非常重要,充分显示了X射线衍射用于分析晶体结构的有效性,使其开始为物理学家和化学家普遍接受。

布拉格父子因在用X射线研究晶体结构方面所作出的杰出贡献分享了1915年的诺贝尔物理学奖[3]。

热阴极管

X光管分为充气管和真空管两类。1895年 伦琴发现X射线时使用的是克鲁克斯发明的阴极射线管——即最早的充气X射线管,但因其功率小、寿命短、控制困难,应用不便。当时为了得到清晰的X光照片,甚至需要曝光一个小时以上。
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1912-1913年,美国科学家威廉.考林杰(William David Coolidge, 1873-1975)(见图)发明了热阴极管——即真空X射线管(见图)。它可提供可靠的电子束,改善线质和穿透性,避免了含气管的不稳定性。其阴极为直热式螺旋钨丝,阳极为铜块端面镶嵌的金属靶,管内真空度不低于10-4帕。阴极发射出的电子经数万至数十万伏高压加速后撞击靶面产生X射线,大大缩短了需要曝光的时间,为促进X射线的研究起了很大作用,还为发现肺病出了很大贡献。
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热阴极管以后又经过许多改进,至今仍在应用。

X射线光谱

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1914年,英国物理学家莫塞莱(Henry Moseley,1887-1915)(见图)用布拉格X射线光谱仪研究不同元素的X射线,取得了重大成果。莫塞莱发现,以不同元素作为产生X射线的靶时,所产生的特征X射线的波长不同。他把各种元素按所产生的特征X射线的波长排列后,发现其次序与元素周期表中的次序一致,他称这个次序为原子序数,认为元素性质是其原子序数的周期函数。原子序数把各种元素基本上按原子量递增的顺序排列成一个系列,可是却比按原子量递增排列得到更合理的顺序。关于原子序数的发现被称为莫塞莱定律。
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瑞典物理学家卡尔.西格班(Karl Manne Georg Siegbahn,1886-1978)(见图)继承和发展了莫塞莱的研究,他改进了真空泵的设计,他设计的X射线管,可使曝光时间大大缩短,从而使他的测量精度大为提高。因此他能够对X射线谱系作出精确的分析。他测量波长的精确度比莫塞莱提高了1000倍。西格班的研究支持了玻尔等人把原子中电子按壳层排列的观点。他和他的同事还从各种元素的标识X辐射整理出系统的规律,对原子的电子壳层的能量和辐射条件建立了完整的知识,同时也为与之有关的现象作出量子理论解释建立了坚实的经验基础。西格班在他的《伦琴射线谱学》一书中对这方面的成果作了全面总结,成为一部经典的科学著作。西格班获得了1924年的诺贝尔物理学奖,成为继巴克拉之后,又一次因X射线学的贡献而获诺贝尔物理学奖的物理学家[5]。西格班的X射线谱仪测量精度非常之高,以至30年后还在许多方面得到应用。
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有意思的是:卡尔.西格班的儿子凯.西格班在57年后的1981年,由于在电子能谱学方面的开创性工作获得了诺贝尔物理学奖的一半。

X射线光电子谱

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凯.西格班(Kai Manne Borje Siegbahn,1918- )(见图)一直从事核能谱的研究。20世纪50年代,他和同事们用双聚焦磁式能谱仪研究放射性能谱。当时,往往会因为回旋加速器的原因不得不停下来等待放射性样品。能否用一种更容易掌握的代用品来激发放射性辐射呢?凯.西格班设想用X射线管使材料发出光电子,然后再尽可能精确地测量其结合能。这种办法曾有人作过尝试,但灵敏度不高。凯.西格班将他在核能谱方面的经验用于外光电效应,并将高分辨率仪器用于实验,在这个领域获得了重大改进。他们将新研制的测量X射线光电子能量的双聚焦高分辨率电子能谱仪用于研究电子、光子或其它粒子轰击原子体系后发射出来的电子,系统地研究了各种元素的电子结合能。后来他们又将此项技术用于化学分析的电子能谱。凯.西格班开创了一种新的分析方法—X射线光电子能谱学XPS(X-ray Photoelectron Spectroscopy),或化学分析电子能谱学ESCA(Electron Spectroscopy for Chemical Analysis)。X射线光电子能谱学是化学上研究电子结构和高分子结构、链结构分析的有力工具,西格班开创的光电子能谱学为探测物质结构提供了非常精确的方法。
  

由于凯.西格班在电子能谱学方面的开创性工作,他获得了1981年诺贝尔物理学奖的一半[18]。

多晶体衍射  
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1916年,美籍荷兰物理学家、化学家德拜(Peter Joseph Wilhelm Debye,1884-1966)(见图)和瑞士物理学家谢乐(Paul Scherrer,1890-1969)发展了用X射线研究晶体结构的方法,采用粉末状的晶体代替较难制备的大块晶体。粉末状晶体样品经X射线照射后在照相底片上可得到同心圆环的衍射图样(德拜-谢乐环)(见图),可用于鉴定样品的成分,测定晶体结构。因当时正值第一次世界大战,信息交流受阻,1917年,美国科学家Hull也独立提出了这一方法。德拜因利用偶极矩、X射线和电子衍射法测定分子结构的成就而获1936年诺贝尔化学奖[7]。
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散射  

美国物理学家康普顿(Arthur Holy Compton,1892~1962)在大学生时期就跟随其兄卡尔·康普顿开始X射线的研究。后来他到了卡文迪什实验室,主要从事g射线的实验研究。他用精湛的实验技术精确测定了γ射线的波长,并确定γ射线在散射后波长会变得更长。但他没能从理论上解释这个实验事实。他到了美国华盛顿大学后,用X射线进行实验,检验用γ射线做的散射实验结果。他发现,晶体反射的单色X射线也能激发同样的现象,还发现这种X辐射具有偏振性。经过多次精细实验,康普顿得到了明确的结论,散射的波长比入射的波长更长,波长的改变量只决定于散射角。(见图为康普顿在X射线光谱仪前工作)
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1923年5月,康普顿用爱因斯坦的光子概念成功地解释了x 射线通过石墨时所发生的散射。他假设光子与电子在碰撞过程中既要遵守能量守恒又要遵守动量守恒,他按照这个思路列出方程后求出了散射前后的波长差,结果跟实验数据完全符合,这样就证实了他的假设。这种现象被称为康普顿效应。

康普顿进一步证实了爱因斯坦的光子理论,揭示出光的二象性本质,从而导致了近代量子物理学的诞生和发展;另一方面康普顿效应也阐明了电磁辐射与物质相互作用的基本规律,从理论和实验上都具有极其深远的意义。康普顿于1927年与英国的物理学家威尔逊同获诺贝尔物理学奖[6]。

宇宙X射线源

所有的恒星包括太阳在内,都在不断地发射各种波长的电磁波,不仅有可见光而且还有人类肉眼看不见的X射线、伽玛射线等。由于X射线很容易被地球的大气层吸收,要探测来自宇宙空间的X射线,就必须把探测器放入太空中。
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二次世界大战结束后,美国缴获的德国V2火箭为美国研究宇宙X射线提供了可能。1949年由美国海军天文台弗里德曼(Herbert Friedman,1916-2000)(见图)领导的一个小组把盖革计数器放在V2火箭上发射升空,首次发现了来自太阳的X射线。但这样的仪器很难探测到来自更远恒星的X射线。
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美国科学家贾科尼(Riccardo Giacconi, 1931-)(见图)1960年提出了建造X射线望远镜的可能性。1962年贾科尼的研究组发现了第一个太阳系外的X射线源,命名为天蝎座X-1。不久又发现了另外两个X射线源,其中一个被证实为是蟹状星云。蟹状星云辐射的X射线能量比太阳高出100亿倍。

由于火箭观测时间短,气球观测受升空高度限制只能测到能量较高的X射线,贾科尼在1963年建议用人造卫星进行X射线的巡天观测。1970年10月12日,贾科尼等设计的这样一颗人造卫星UHURU号升空(见图)。之后,又有9颗新的X射线人造卫星升空。到1972年,发现的X射线源迅速增加到339个,贾科尼等发表了大量的研究成果。
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1978年,贾科尼领导研制的高能天体物理观测台2号HEAO-2(High Energy Astronomy Observatory-2)发射升空,后更名为"爱因斯坦X射线观测台"(Einstein Gallery)(见图),这是世界上第一个宇宙X射线探测器。它携带有角分辨率为2角秒的X射线望远镜,首次提供了精确的宇宙X射线图像,第一个探测到了太阳系以外的X射线源,第一个证实了宇宙中存在X射线辐射背景,第一个探测到了可能来自黑洞的X射线。在此基础上科学家获得了大量新发现。
  1976年,贾科尼设计了一台新的X射线望远镜。由于经费问题它直到1999年才发射升空,升空后更名为"钱德拉X射线观测台"(Chandra X-ray Observatory)。它功能强大总耗资15亿美元,对探测星系、类星体和恒星以及寻找黑洞、暗物质的踪迹有着非常重要的意义。

贾科尼在“发现宇宙X射线源”方面取得的成就导致了X射线天文学的诞生,在光学波段之外又开辟了一个认识宇宙的窗口,使人们看到了一个布满X射线源的天空。贾科尼与在宇宙中微子探测方面作出杰出贡献的美国科学家戴维斯(Raymond Davis Jr., 1914-)以及日本科学家小柴昌俊(Masatoshi Koshiba, 1926-)共同分享了2002年度诺贝尔物理学奖[23]。

产生X射线的方式主要有以下四种:X射线管、激光等离子体、同步辐射和X射线激光。

X射线管  

X射线管是利用高速电子撞击金属靶面产生X射线的电子器件,分为充气管和真空管两类。1895年伦琴发现X射线时使用的克鲁克斯管就是最早的充气X射线管。

1913年考林杰发明的真空X射线管的最大特点是钨灯丝加热到白炽状态以提供管电流所需的电子,调节灯丝的加热温度就可以控制管电流,可提高影像质量。

1913年发明了在阳极靶面与阴极之间装有控制栅极的X射线管,在控制栅上施加脉冲调制,以控制X射线的输出和调整定时重复曝光,部分地消除了散射线,提高了影像的质量。

1914年制成了钨酸镉荧光屏,开始了X射线透视的应用。
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1923年发明了双焦点X射线管,X射线管的功率可达几千瓦,矩形焦点的边长仅为几毫米,X射线影像质量大大提高。同时,造影剂的逐渐应用,使X射线的诊断范围也不断扩大。X射线管还广泛用于零件的无损检测,物质结构分析、光谱分析等方面。

2002年,美国北卡罗来纳大学的华裔科学家卢健平等人为X射线源找到了新的方法。这种方法用碳纳米管制成“场发射阴极射线管”来发射高能电子,无须利用高温产生高能电子束,便能产生X射线。在室温条件下,一薄层碳纳米管就能产生高能电子束,一接通电源即可发射X射线,没有金属丝的预热过程。

激光等离子体光源  

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激光等离子体光属于价格便宜、易于操作的光源,可以用于X射线显微术,象电子扫描显微镜一样作为实验室的常规分析工具。其基本原理是:当高强度(1014~1015 W/cm2)激光脉冲聚焦打在固体靶上时,靶的表面迅速离化形成高温高密度的等离子体,进而发射X射线。它是一种具有足够辐射强度的独立点光源,所用泵浦激光器主要有Nd:YAG,钕玻璃和KrF等。X射线发射与靶材料有关,由于溅射残屑可能损伤和污染光学系统和样品,若用气体靶代替固体靶可以避免残屑问题。因此,需要进一步研究开发有效的、高重复频率工作的、不产生残屑的激光等离子体X射线光源。

同步辐射光源  

速度接近光速的带电粒子在磁场中作圆周运动时,会沿着偏转轨道切线方向发射连续谱的电磁波(见图)。1947年人类在电子同步加速器上首次观测到这种电磁波,并称其为同步辐射,后来又称为同步辐射光。同步辐射最初是作为电子同步加速器的有害物而加以研究的,后来成为一种从红外到硬X射线范围内有着广泛应用的高性能光源。同步辐射光源是开展凝聚态物理、材料科学、生命科学、资源环境及微电子技术等多学科交叉前沿研究的重要平台。(见图为拥有近70条光束线的美国阿贡实验室同步辐射光源)
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同步辐射光源的主体是电子储存环,30多年来已经历了三代的发展。第一代同步辐射光源的电子储存环是为高能物理实验而设计的,只是“寄生”地利用从偏转磁铁引出的同步辐射光,故又称“兼用光源”;第二代同步辐射光源的电子储存环则是专门为使用同步辐射光而设计的,主要从偏转磁铁引出同步辐射光;第三代同步辐射光源的电子储存环对电子束发射度和大量使用插入件进行了优化设计,使电子束发射度比第二代小得多,同步辐射光的亮度大大提高,如加入波荡器等插入件可引出高亮度、部分相干的准单色光。
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同步辐射光具有频谱宽且连续可调(具有从远红外、可见光、紫外直到X射线范围内的连续光谱)、亮度高(第三代同步辐射光源的X射线亮度是X光机的上亿倍)、高准直度、高偏振性、高纯净性、窄脉冲、精确度高以及高稳定性、高通量、微束径、准相干等独特的性能。(见图为设计有30个光引出口的英国DIAMOND同步辐射光源)
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世界上有近40台同步辐射光源正在运行,还有几十台在设计、建造中。我国的北京同步辐射装置(BSRF)、合肥中国科技大学同步辐射装置(NSRL)和台湾新竹的同步辐射装置(SRRC)分别属于第一、第二和第三代光源,正在建造的上海光源(SSRF)属第三代光源。

   

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(上左:BSRF平面图;上右:NSRL束线分布图)

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(上左:SSRF平面图;上右:SRRC平面图)

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上图为建在BSRF的我国大陆第一条中能X射线双晶单色器光束线,该光束线用于中等能区X射线范围(1.2keV-6.0keV)的计量学、探测器标定、光学元件性能测试及吸收谱学等方面的研究,具有重要的科学意义。
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上图为北京同步辐射装置4W1A光束线形貌学实验站上能量为24keV的X射线拍摄的肝样品图像。

X射线激光  

正因为X射线的应用越来越广泛,科学家着重研究增加X射线的强度。世界上第一个红宝石激光1960年问世以来,在X射线波段实现激光辐射就一直是激光研究的重要目标。X射线激光除了具有普通激光方向性强、发散度小的特点外,其单光子能量比传统的光学激光高上千倍,具有极强的穿透力。

1981年,美国在地下核试验中进行核泵浦X射线激光实验获得成功,极大地推动了开展实验室X射线激光的研究。水窗的饱和X射线激光是目前唯一能够对生物活体细胞进行无损伤三维全息成像和显微成像的光源,借助于它有可能解开生命之谜。美、英、日、法、德、俄罗斯和中国等国的许多著名实验室都相继作了部署。1994年,美国利弗莫尔实验室用世界上功率最大的激光器的3000焦激光能量泵浦钇靶,产生了波长15.5纳米的饱和X射线激光。1996年底,中国旅英青年学者张杰领导的联合研究组,在英国卢瑟福实验室利用多路激光器轰击钐靶,在泵浦能量仅为150焦的情况下,成功地获得了波长为7.3纳米的X射线激光饱和增益输出,为在“水窗”波段实现增益饱和输出的X射线激光带来了巨大的希望。

X射线自由电子激光  

自由电子激光是一种以相对论优质电子束为工作媒介、在周期磁场中以受激辐射方式放大短波电磁辐射的强相干光源(其“周期磁场”由波荡器产生),具有波长范围大、波长易调节、亮度高、相干性好、脉冲可超短等突出优点,尤其是高增益短波长自由电子激光,普遍被看好是下一代光源的代表,具有巨大的发展潜力和重大的应用前景。(见图为德国DESY自由电子激光器的波荡器)
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目前,全世界有20多个能产生从红外线到紫外线各种波长激光的自由电子激光器已经投入使用或正在研制中。现在科学家正试图让其波长范围延伸到X射线。X射线自由电子激光能产生波长可调的,极高强度的飞秒相干光,可为各种体系的高空间分辨和时间分辨的动力学研究提供强有力的手段,将给物理、化学、材料科学、地质、生命科学和医学等多个学科的前沿研究带来突破,为人类对自然的认识打开全新的视野。利用它可对活细胞进行无损伤立体成像,直接观察细胞中的生命过程,为揭开生命之谜提供重要的工具。利用它进行显微和光刻,可以大幅度地提高分辨率和精度。同时,也将对军事与工业的发展带来深远的影响。发展X射线自由电子激光具有前瞻性及战略意义。
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世界各科技强国均将X射线自由电子激光的研究列入了未来科技发展计划的重要内容,正在加紧研制的X射线自由电子激光器的能量将是现有设备的100亿倍。美国斯坦福直线加速器中心将于2009年率先推出“直线加速器相干光源(LCLS)”(见图),这个项目预算为3.79亿美元。位于汉堡的德国电子同步回旋加速器研究中心已研制出先进的紫外线自由电子激光器,并计划到2012年时推出欧洲的X射线自由电子激光器,预计成本为9.08亿欧元。日本也在开展类似的项目。如何用尽可能小的输入能量在尽可能短的波长上产生高增益X射线激光是当今各科技大国在该领域竞争的主要焦点。
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杨振宁先生从1997年5月开始先后8次给我国有关部门和有关领导写信,呼吁中国尽快开展X射线自由电子激光的预研究,我国政府和科学界对此给予了高度关注。

高能所曾在1994年研制成功中红外波段的北京自由电子激光装置,在亚洲第一个实现了饱和出光(见图为北京自由电子激光装置)。自2000年起,在中国科学院、科技部、国家自然科学基金委的先后支持下,上海应用物理所、高能所和中国科技大学以及北京大学已联合开展深紫外自由电子激光的前期和预制研究工作。这些部署对于发展X射线自由电子激光仍过于薄弱,我国要跨越发展到X射线自由电子激光,还存在很多技术空白和技术难点,为了能在2015年左右建成我国的X射线自由电子激光装置,各项关键技术的研究及装置建设的方案论证工作正在进行中,装置的建设即将正式启动。



X射线的特性及应用

科学家们逐渐揭示了X射线的本质,作为一种波长极短,能量很大的电磁波,X射线的波长比可见光的波长更短(约在0.001~100 纳米,医学上应用的X射线波长约在0.001~0.1 纳米之间),它的光子能量比可见光的光子能量大几万至几十万倍。因此,X射线除具有可见光的一般性质外,还具有自身的特性。正由于X射线的特性,使其在发现后不久,很快在物理学、工业、农业和医学上得到广泛的应用(见图为X射线探伤机),特别是在医学上,X射线技术已成为对疾病进行诊断和治疗的专门学科,在医疗卫生事业中占有重要地位。

1.X射线的物理效应
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(1)穿透作用。X射线因其波长短,能量大,照在物质上时,仅一部分被物质所吸收,大部分经由原子间隙而透过,表现出很强的穿透能力。X射线穿透物质的能力与X射线光子的能量有关,X射线的波长越短,光子的能量越大,穿透力越强。X射线的穿透力也与物质密度有关,利用差别吸收这种性质可以把密度不同的物质区分开来。(见图为X射线行李检查仪)

(2)电离作用。物质受X射线照射时,可使核外电子脱离原子轨道产生电离。利用电离电荷的多少可测定X射线的照射量,根据这个原理制成了X射线测量仪器。在电离作用下,气体能够导电;某些物质可以发生化学反应;在有机体内可以诱发各种生物效应。
  
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(3)荧光作用。X射线波长很短不可见,但它照射到某些化合物如磷、铂氰化钡、硫化锌镉、钨酸钙等时,可使物质发生荧光(可见光或紫外线),荧光的强弱与X射线量成正比。这种作用是X射线应用于透视的基础,利用这种荧光作用可制成荧光屏,用作透视时观察X射线通过人体组织的影像,也可制成增感屏,用作摄影时增强胶片的感光量。
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(4)热作用。物质所吸收的X射线能大部分被转变成热能,使物体温度升高。
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(5)干涉、衍射、反射、折射作用。这些作用在X射线显微镜(见图)、波长测定和物质结构分析中都得到应用。(见图为澳大利亚制造的新型X射线显微镜拍摄的物体内亚结构高分辨率图像)

2.X射线的化学效应

(1)感光作用。X射线同可见光一样能使胶片感光。胶片感光的强弱与X射线量成正比,当X射线通过人体时,因人体各组织的密度不同,对X射线量的吸收不同,胶片上所获得的感光度不同,从而获得X射线的影像。

(2)着色作用。X射线长期照射某些物质如铂氰化钡、铅玻璃、水晶等,可使其结晶体脱水而改变颜色。

3.X射线的生物效应
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X射线照射到生物机体时,可使生物细胞受到抑制、破坏甚至坏死,致使机体发生不同程度的生理、病理和生化等方面的改变。不同的生物细胞,对X射线有不同的敏感度,可用于治疗人体的某些疾病,特别是肿瘤的治疗(见图为治疗肿瘤的X刀)。在利用X射线的同时,人们发现了导致病人脱发、皮肤烧伤、工作人员视力障碍,白血病等射线伤害的问题,在应用X射线的同时,也应注意其对正常机体的伤害,注意采取防护措施。

与X射线相关的诺贝尔奖  

从1901年获诺贝尔物理奖的伦琴开始,一个多世纪以来,因研究X射线技术、以及使用X射线进行研究、与X射线有关的研究而获得诺贝尔奖的已有多人,可见X射线在科技发展中占有的重要地位。以下统计可能不完全:

[1]1901年,诺贝尔奖第一次颁发,伦琴就由于发现X射线而获得了诺贝尔物理学奖。

[2]1914年,劳厄由于利用X射线通过晶体时的衍射,证明了晶体的原子点阵结构而获得诺贝尔物理学奖。

[3]1915年,布拉格父子因在用X射线研究晶体结构方面所作出的杰出贡献分享了诺贝尔物理学奖。

[4]1917年,巴克拉由于发现标识X射线获得诺贝尔物理学奖。

[5]1924年,西格班因在X射线光谱学方面的贡献获得了诺贝尔物理学奖。

[6]1927年,康普顿与威尔逊因发现X射线的粒子特性同获诺贝尔物理学奖。

[7]1936年,德拜因利用偶极矩、X射线和电子衍射法测定分子结构的成就而获诺贝尔化学奖。

[8]1946年,缪勒因发现X射线能人为地诱发遗传突变而获诺贝尔生理学.医学奖。

[9]1954年,鲍林由于在化学键的研究以及用化学键的理论阐明复杂的物质结构而获得诺贝尔化学奖(他的成就与X射线衍射研究密不可分)。

[10]1962年,沃森、克里克、威尔金斯因发现核酸的分子结构及其对生命物质信息传递的重要性分享了诺贝尔生理学.医学奖(他们的研究成果是在X射线衍射实验的基础上得到的)。

[11]1962年,佩鲁茨和肯德鲁用X射线衍射分析法首次精确地测定了蛋白质晶体结构而分享了诺贝尔化学奖。

[12]1964年,霍奇金因在运用X射线衍射技术测定复杂晶体和大分子的空间结构取得的重大成果获诺贝尔化学奖。

[13]1969年,哈塞尔与巴顿因提出“构象分析”的原理和方法,并应用在有机化学研究而同获诺贝尔化学奖(他们用X射线衍射分析法开展研究)。

[14]1973年,威尔金森与费歇尔因对有机金属化学的研究卓有成效而共获诺贝尔化学奖。

[15]1976年,利普斯科姆因用低温X射线衍射和核磁共振等方法研究硼化合物的结构及成键规律的重大贡献获得诺贝尔化学奖。

[16]1979年,诺贝尔生理.医学奖破例地授给了对X射线断层成像仪(CT)作出特殊贡献的豪斯菲尔德和科马克这两位没有专门医学经历的科学家。

[17]1980年,桑格借助于X射线分析法与吉尔伯特、·伯格因确定了胰岛素分子结构和DNA核苷酸顺序以及基因结构而共获诺贝尔化学奖。

[18]1981年,凯.西格班由于在电子能谱学方面的开创性工作获得了诺贝尔物理学奖的一半。

[19]1982年,克卢格因在测定生物物质的结构方面的突出贡献而获诺贝尔化学奖。

[20]1985年,豪普特曼与卡尔勒因发明晶体结构直接计算法,为探索新的分子结构和化学反应作出开创性的贡献而分享了诺贝尔化学奖。

[21]1988年,戴森霍弗、胡伯尔、米歇尔因用X射线晶体分析法确定了光合成中能量转换反应的反应中心复合物的立体结构,共享了诺贝尔化学奖。

[22]1997年,斯科与博耶和沃克因籍助同步辐射装置的X射线,在人体细胞内离子传输酶方面的研究成就而共获诺贝尔化学奖。

[23]2002年,贾科尼因发现宇宙X射线源,与戴维斯、小柴昌俊共同分享了诺贝尔物理学奖。

[24]2003年,阿格雷和麦金农因发现细胞膜水通道,以及对细胞膜离子通道结构和机理研究作出的开创性贡献被授予诺贝尔化学奖(他们的成果用X射线晶体成像技术获得)。

[25]2006年,科恩伯格被授予诺贝尔化学奖,以奖励他在“真核转录的分子基础”研究领域作出的贡献(他将X射线衍射技术结合放射自显影技术开展研究)。

(本文全文转自中科院高能物理研究所网站)
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虎哥作者
10年7个月前
2楼
射线检测考题汇编
  选择题(将认为正确的序号字母填入题后面的括号内,只能选择一个答案)
  
  1.采用中子照相法时,下列哪一种曝光方法是正确的?(b)
  a.直接用X射线胶片曝光 b.利用镉屏和钆屏受中子激发后再使用X射线胶片曝光
  c.利用铅箔增感屏加X射线胶片曝光 d.利用荧光增感屏加X射线胶片曝光
  2.实时射线检测法(Real Time RT)与传统RT的最大区别在于(a)
  a.实时射线检测通常不采用底片 b.实时射线检测通常采用电脑判读
  c.实时射线检测通常采用微焦点X光机 d.实时射线检测通常使用在高能量RT
  3.实时射线检测法电脑评判图像的优点是(d)
  a.立即显现物件瑕疵 b.较客观正确 c.影像可用打印机打印、硬盘保存或光碟刻录保存 d.以上都对
  4.与传统的RT比较,实时射线检测法(Real Time RT)的优点是(a)
  a.可以即时评定 b.灵敏度佳 c.设备简单 d.影像可永久保留
  5.射线照相法和荧光屏观察法的图像之间的基本区别是什么?(d)
  a.荧光屏显像更灵敏 b.荧光屏显像较暗 c.两者之间无差别
  d.荧光屏显像是正的透明图像,而射线照相是负的透明图像
  6.提高荧光屏观察法灵敏度的主要困难是什么?(b)
  a.结果无法再现和周期性地置换荧光屏难以实现 b.受到亮度和荧光屏材料晶粒尺寸的限制
  c.成本高和速度慢 d.以上都不是
  7.在射线检测中,利用照相机从荧光板上拍摄试验物体影像的方法称为(b)
  a.直接照相法 b.间接照相法 c.透过照相法 d.荧光照相法
  8.检查厚度为37毫米的钢锻件内部缺陷,应选用下列哪种射线进行检测?(d)
  a.X射线 b.高能射线 c.γ射线 d.以上都不适合
  9.在采用高能射线进行射线照相时,不能在胶片暗盒背后放置铅屏蔽,因为(d)
  a.高能射线能在铅屏蔽上激发出较强的散射线 b.高能射线能在铅屏蔽上激发出较强的高能电子
  c.使用铅屏蔽反而会降低影像质量 d.以上都对
  10.X射线管焦点的大小直接影响下面哪个参数?(b):a.穿透深度 b.影像清晰度 c.管子的功率比 d.散热效果
  11.X射线管焦点的大小直接影响下面哪个参数?(b):a.穿透力 b.几何模糊度 c.固有不清晰度 d.灰雾度
  12.选择小焦点的X射线管目的是为了获得(c)
  a.衬度高的图像 b.底片黑度大的图像 c.分辨力高的图像 d.以上都不对
  13.选择小焦点的X射线管目的是为了获得(c)
  a.对比度高的影像 b.黑度大的影像 c.清晰度高的影像 d.以上都不对
  14.下列哪种方法可用于测定X射线管的有效焦点?(a):a.针孔成像测定法 b.机械测量法 c.仪表测量法 d.都可以
  15.为了获得高清晰度的射线图像,在选择X射线机时,焦点的有效面积应(b)
  a.尽可能大 b.尽可能小 c.尽可能圆 d.尽可能方
  16.在什么情况下,即使放射源尺寸较大,也可以获得质量较高的底片?(b)
  a.用较多的铅作屏蔽 b.射源能量的大小允许采用较大的源至胶片距离 c.使用感光速度快的胶片 d.减少曝光时间
  17.在什么情况下,即使放射源尺寸较大,也可以获得质量较高的底片?(b)
  a.降低射源能量 b.射源能量的大小允许采用较大的焦距 c.使用快速胶片 d.增加曝光时间
  18.如果物体厚度为20毫米,焦距800毫米,得到的几何模糊度是0.05毫米,则焦点尺寸是(b)
  a.3mm b.2mm c.1mm d.0.4mm
  19.利用针孔摄影法测定X射线管焦点尺寸所用真空板的材料是(f)
  a.钨 b.碳化钨 c.钨合金 d.白铱合金 e.铅 f.以上都可以
  20.一块薄铅片,其中含有一个针孔,置于X光管与底片之正中间作射线照相,其目的为(a)
  a.测量X光管焦点的大略尺寸 b.测量X射线中央部分的强度 c.测量铅片上针孔的大小 d.检验铅片的品质
  21.X光机的有效焦点宜尽量缩小,其目的是希望(b)
  a.散热效果良好 b.底片清晰度良好 c.不要有实际焦点 d.X光穿透力良好
  22.射线源尺寸较大时应如何补救?(a)
  a.增加射源至物件的距离 b.增加增感屏厚度 c.减少曝光时间 d.增加曝光时间
  23.射线检测中可用针孔法求(a):a.X光焦点尺寸 b.底片透光度 c.缺陷大小 d.以上都对
  24.以针孔法求得焦点尺寸,最适用于(d):a.钴60 b.伽玛射线 c.300KV以上X光机 d.300KV以下X光机
  25.在X射线管和胶片距离的1/2处放置一块用高密度材料制成并钻有小孔的板,这是用来做什么的?(c)
  a.测量中心射线的强度 b.过滤散射线 c.测定焦点的大致尺寸 d.测量软化X射线的能量
  26.在什么条件下尺寸较大的源摄得的射线底片质量可与尺寸较小的源相当?(a)
  a.增大源到胶片距离 b.采用较厚的铅增感屏 c.使用速度快的胶片 d.缩短曝光时间
  27.在胶片特性曲线上,连接给定两点密度的直线的斜率称为(d):a.曝光速度 b.曝光范围 c.密度差 d.平均梯度
  28.胶片特性曲线是表达(a)
  a.射线底片的影像密度与相应曝光量之间的关系曲线 b.管电压与穿透厚度之间的关系曲线
  c.底片密度与穿透厚度之间的关系曲线 d.以上都不是
  29.在胶片特性曲线上,使底片获得例如D=1.5的一定密度所需曝光量的倒数称为该胶片的(c)
  a.感光度 b.胶片速度 c.a和b d.以上都不对
  30.胶片特性曲线上的斜率可以判别什么参数?(b):a.感光度 b.衬度 c.温度性能 d.密度
  31.从胶片特性曲线的斜率可以判断胶片的(a)特性:a.感光度 b.梯度 c.灰雾度 d.以上都可以
  32.胶片特性曲线越陡峭,则该胶片的衬度(a):a.越高 b.越低 c.胶片的衬度与特性曲线的陡峭程度无关
  33.胶片特性曲线如果很陡(斜率大),则表示(a):a.胶片对比度大 b.胶片黑度大 c.胶片对比度小 d.工件对比度大
  34.底片密度范围限制在胶片特性曲线的适当曝光区,这是因为在此区透照得到的底片(b)
  a.密度大 b.衬度最大,灵敏度高 c.密度均匀 d.几何不清晰度高
  35.在制作胶片特性曲线时,若其他参数保持恒定的情况下,显影时间延长,则胶片特性曲线将表现为(a)
  a.对比度提高,感光速度提高 b.对比度提高,感光速度降低
  c.对比度降低,感光速度提高 d.对比度降低,感光速度降低
  36.表示胶片曝光量和得到的底片黑度之间的关系曲线称为(a)
  a.胶片特性曲线 b.曝光曲线 c.不清晰度 d.被摄物对比度
  37.之所以要把底片黑度范围限制在胶片特性曲线的适当曝光区,是因为在此区域内透照得到的底片(d)
  a.黑度大 b.黑度最均匀 c.几何不清晰度高 d.对比度最大
  38.在制作胶片特性曲线时,若增加显影时间,胶片特性曲线有什么变化?(a)
  a.特性曲线变得更陡,且向左移动 b.特性曲线变得更陡,且向右移动
  c.对特性曲线无多大影响 d.特性曲线的形状不变,但向左移动
  39.在制作胶片特性曲线时,若增加显影时间,胶片特性曲线有什么变化?(a)
  a.特性曲线变得更陡,且向左移动 b.特性曲线变得更陡,且向右移动
  c.特性曲线变得平缓,且向左移动 d.特性曲线变得平缓,且向右移动
  40.表示胶片受到一系列X射线量照射时,显影后的底片黑度发生相应变化的曲线,叫做:(c)
  a.曝光曲线 b.灵敏度曲线 c.胶片特性曲线 d.吸收曲线
  41.胶片特性曲线上,过两个特定黑度点的直线斜率的大小是用来衡量(c)
  a.工件反差 b.底片反差 c.胶片反差 d.灵敏度
  42.胶片的密度和曝光量之间的关系常用特性曲线来分析,在射线照相法中,如图所示,主要是利用曲线中的哪一段?(b)
  a.ab曲线段 b.bc直线段 XXXX曲线段 XXXX段
  43.胶片的特性曲线可以表示下列什么参数?(e)
  a.胶片的曝光范围 b.胶片感光度的最大密度
  c.胶片本身的灰雾度 d.胶片的衬度系数 e.以上都是
  44.根据胶片特性曲线确定某黑度时所需曝光量的倒数称为在该黑度条件下的(a)a.感光度 b.灰雾度 c.衬度 d.密度
  45.测定增感物质增感系数所绘制的D-t曲线,其纵坐标为黑度,横坐标是(a): a.曝光时间 b.曝光量 c.管电压 d.管电流
  46.哪一因素变化,会使胶片特性曲线形状明显改变?(d)
  a.改变管电压 b.改变管电流 c.改变焦距 d.改变显影条件
  47.在胶片特性曲线上可以得到胶片的技术性能参数是(d)
  a.胶片的反差系数 b.胶片的本底灰雾度 c.正常的曝光范围 d.三者均是
  
  48.确定胶片密度和胶片速度的方法是下列哪种?(d)
  a.利用胶片特性曲线进行比较 b.通过与一张已知速度的胶片进行比较 c.通过试验做绝对测量 d.a和b
  49.在制作胶片特性曲线时,除了曝光时间和黑度是变量外,其他哪些参量必须固定?(i)
  a.焦距 b.胶片型号 c.X射线机 d.增感屏类型与规格 e.显影条件 f.滤波板 g.管电压 h.管电流 i.以上都是
  50.底片黑度范围限制在软片特性曲线的适当曝光区,这是因为在此区透照出的底片(b)
  a.黑度大;b.黑度均匀;c.几何不清晰度高;d.对比度最大,灵敏度高
  51.欲检出微小缺陷时,曝光量应选择在胶片特性曲线的哪个区域以获得较佳的对比度?(a)
  a.斜率大处 b.斜率小处 c.斜率不大不小处 d.检出能力仅与试件特性有关,无法以适当曝光量的选择而改善
  52.在X射线管窗口处加用滤光板可以达到什么目的?(b)
  a.增强二次辐射的X射线 b.滤掉软辐射线,得到更均匀的X射线束
  c.滤掉波长短的X射线束,提供软的辐射线 d.使X射线强度均匀化
  53.X射线管窗口放置滤波器的目的是(d)
  a.产生二次射线以增强X射线束 b.获得软X射线 c.使X射线强度易于调整
  d.滤掉不必要的软射线,以得到比较单纯的X射线束
  54.在射线管窗口加滤板,在工件上加补偿块减小厚度差,以及采用多胶片法,都是为了(d)
  a.校正不良清晰度 b.校正低密度 c.校正低对比度 d.校正低宽容度
  55.置于工件和射源之间的滤板可以减少从工件边缘进入的散射线,其原因(a)
  a.吸收一次射线束中波长较长的成分 b.吸收一次射线束中波长较短的成分;
  c.吸收背散射线 d.降低一次射线束的强度
  56.X射线管的管电压值影响射线的哪一参数?(c)
  a.X射线束的能量 b.X射线束的强度 c.X射线束的能量和强度 d.X射线束的硬度
  57.X射线管的管电压值影响射线的哪一参数?(c)
  a.X射线的穿透力 b.X射线束的强度 c.X射线束的穿透力和强度 d.X射线束的硬度
  58.如果提高管电流,而管电压不变,则射线束的穿透力有没有变化?(c)
  a.有变化 b.按正比规律变化 c.没有变化 d.按反比规律变化
  59.X射线照相时,使用的管电压值越高,则其衬度(c):a.越高 b.不变 c.越小 d.随机变化
  60.采用高KV值X射线照相法的特点是什么?(b)
  a.能获得较高的对比度 b.适用于厚试样或吸收系数大的试样的照相
  c.能获得清晰度较好的底片 d.能扩大被检物的照射范围
  61.千伏值提高时,被摄物对比度将(b):a.提高 b.降低 c.不变 d.与E2成正比
  62.对任何工件射线照相的管电压均首先要根据(c)选择
  a.管电流 b.胶片类型 c.工件厚度 d.底片黑度与焦距的乘积
  63.控制或减少散射线是保证底片质量的关键问题,散射线主要来自何方?(c)
  a.窗口、空气及地面 b.空气、试样和暗盒
  c.试件前面、边缘和背面 d.试样、铅板和墙壁
  64.控制散射线的基本方法有哪些?(d)
  a.采用铅增感屏法 b.采用屏蔽与光阑法
  c.采用滤波法 d.以上方法都使用
  65.在胶片盒背后放置一定厚度的铅板,可防止背面散射线,若在胶片盒背面放置一个铅字,在底片上出现这个铅字的影像,则说明(b)
  a.对背面散射防护过度 b.对背面散射防护不足
  c.对背面散射防护适宜 d.与背面散射防护无关
  66.射线探伤时,在胶片暗盒和底部铅板之间放一个一定规格的B字铅符号,如果经过处理的底片上出现B的亮图像,则认为(d)
  a.这一张底片对比度高,像质好 b.这一张底片清晰度高,灵敏度高
  c.这一张底片受正向散射线影响严重,像质不符合要求 d.这一张底片受背向散射影响严重,像质不符合要求
  67.射线在检验物体时的散射可分为哪几种?(c)
  a.空间散射、物体表面散射、地面散射 b.物体表面散射、物体中间散射、物体的1/4层处散射
  c.前面散射、背底散射、边缘散射 d.空间散射、物体散射、底片本身散射
  68.在X射线照相时,在胶片暗盒的背面安置一块铅板,这块铅板与胶片应尽量紧贴,其目的是(b)
  a.作为增感屏 b.防止胶片受来自背面散射线的影响 c.a和b都是 d.支撑零件不使胶片弯曲
  69.在射线照相中,最大的散射源来自(b):a.试件的底面 b.试件本身 c.试件周围的空气 d.试件周围物品
  70.比较大的散射源通常是(d)a.铅箔增感屏 b.铅背板 c.地板和墙壁 d.被检工件本身
  71.由试样本身引起的散射通常叫做(c):a.背散射 b.侧散射 c.正向散射 d.杂乱散射
  72.由试样本身引起的散射通常叫做(c):a.背面散射 b.侧面散射 c.前散射 d.杂乱散射
  73.由被检工件引起的散射线是(c)a.背散射 b.侧面散射 c.正向散射 d.全都是
  74.背散射的主要成分是低能射线,这种低能射线是由(c)过程产生的
  a.光电 b.电子对生成 c.康普顿散射 d.电离
  75.在试样周围放置铅板的目的是(c)
  a.防止试样移位 b.增加被测对象的对比度 c.减少试样非曝光区域的散射线影响 d.产生较短波长的X射线辐射
  76.下列各因素中不改变散射线对影像质量影响的是(b)
  a.提高射线能量 b.增加曝光时间 c.使用铅箔增感屏 d.以上都不是
  77.下列各项防护散射线的措施中,对多个工件一次透照应注意的是(c):a.遮盖 b.滤波器 c.背铅屏 d.以上都是
  78.散射线的强度与(e)相关:a.射线能量 b.被照物材料 c.被照物厚度 d.被照物面积 e.以上都是
  79.散射线的强度(d)
  a.随着射线能量的提高而增大 b.随着射线能量的提高而减少 c.在一定厚度以上时散射强度不再增大 d.a与c
  80.散射线的强度(d)
  a.在较小厚度范围内随厚度增加而增大 b.在较小面积范围内随面积增加而增大
  c.在一定面积以上时散射强度不再增大 d.以上都对
  81.下面哪一条件的变化不会导致散射比显着增大(b)
  a.射线能量从200kV降低到100kV b.照射场范围从Φ300mm增大到Φ500mm;
  c.试件厚度从20mm增大到40mm d.焊缝余高从2mm增加到4mm
  82.射线探伤中屏蔽散射线的方法是(d)a.铅箔增感屏和铅罩 b.滤板和光阑 c.暗盒底部铅板 d.以上全是
  83.下列哪种是射线照相对散射的最佳改善方法?(a)a.铅增感屏 b.荧光增感屏 c.金属荧光增感屏 XXXXP308增感屏
  84.下述哪种情况会增加射线检测试件的内部散射?(c)
  a.试件的厚度与长度 b.试件的厚度与宽度 c.试件的厚度与密度 d.试件的厚度、宽度和长度
  85.下述哪项不是减少散射的办法?(b)a.采用铅增感屏 b.使用荧光增感屏 c.使用铅罩板 d.使用过滤片
  86.在某些情况下,在试件周围塞满铅层后作射线检测,其目的是(d)
  a.防止试件移动,以免造成影像模糊 b.增加试件的对比度 c.能产生较短的X光波长 d.降低散射效应
  87.把经显影后的胶片放入定影液中,胶片从原色变到略有透明的时间称为(d)
  a.定影时间 b.氧化时间 c.坚膜时间 d.通透时间
  88.当显影液温度偏高时,显影时间应如何处理?(b):a.加长 b.缩短 c.保持不变 d.大幅度缩短
  89.在处理胶片时,水洗槽中每小时的水流量一般要求(b)才是适宜的
  a.等于水槽容积的2-3倍 b.等于水槽容积的4-8倍 c.至少为0.15立方米 d.依处理射线胶片的数量成正比例变化
  90.某胶片自动洗片机显影液槽的显影液容量为2.5升,在洗片过程中已多次添加显影液补充液,总数量达到7.5升了,是否还可以继续添加补充液使用?(a)
  a.不应再添加,应该将该显影液报废,替换为新的显影液 b.还可以再使用一段时间
  c.可以一直添加下去使用 d.可以不用补充液而是添加全新的显影液
  91.显影操作必须注意控制的因素是(d):a.显影液温度 b.显影时间 c.显影液浓度 d.以上都是
  92.底片处理完后采用烘箱干燥时,热风的温度不能超过(c):a.25℃ b.30℃ c.40℃ d.50℃
  93.检查底片水洗效果的方法,通常采用1%硝酸银溶液法,如果发现滴试点的颜色呈微黄色,说明(b)
  a.水洗充分 b.水洗不够充分 c.水洗不足,须重新水洗 d.以上都不对
  94.检查底片水洗效果的方法,通常采用1%硝酸银溶液法,如果发现滴试点的颜色呈棕黄色,说明(c)
  a.水洗充分 b.水洗不够充分 c.水洗不足,须重新水洗 d.以上都不对
  95.底片处理中必须有水洗程序,水洗的质量决定于(d):a.水温 b.水洗时间 c.水洗方式 d.以上都是
  96.底片水洗不足会导致产生(b),使得底片出现斑点,照片变黄:a.溴化银 b.硫化银 c.硫酸钠 d.硫代硫酸钠
  97.底片处理中影响定影过程的主要因素是(e)
  a.定影液温度 b.定影时间 c.定影液的老化程度 d.定影操作 e.以上都是
  98.定影液温度高时会(d)
  a.定影进行快 b.定影液药品容易分解失效 c.胶片乳剂层容易膨胀松软而导致脱膜 d.以上都是
  99.定影液温度太低时会(d)
  a.定影进行缓慢 b.定影液药品容易分解失效 c.浸泡时间长而使胶片乳剂层容易膨胀松软导致脱膜 d.a和c
  100.一般认为,定影液老化程度达到通透时间已是新定影液通透时间的(b)倍时,可认为该定影液失效
  a.1 b.2 c.3 d.5
  101.胶片显影后不经水洗或停显液处理就直接放入定影液中时,容易产生二色性灰雾,这是(d)
  a.极细的银粒沉淀 b.在反射光下呈现蓝绿色 c.在透射光下呈现粉红色 d.以上都是
  102.显影补充液的每次加入量不应超过原显影液的(a):a.2-3% b.4-5% c.6-8% d.10%
  103.显影补充液的加入量达到原显影液的(b)倍时,显影液即应报废:a.1-2 b.2-3 c.4-5 d.10
  104.按一般要求,添加显影液补充液的数量达到(b)时,该显影液应当报废
  a.等于原显影液的数量 b.原显影液的2-3倍 c.原显影液的5-6倍 d.原显影液的10倍
  105.当显影液的补充液添加量达到原显影液量的(b)倍时,该显影液应报废:a.1 b.4 c.7 d.10
  106.影响显影过程的因素主要是(d):a.显影液的温度与显影时间 b.显影液的老化程度 c.显影操作 d.以上都是
  107.配制好的显影液储存应注意(d):a.避光 b.密闭 c.配制好至使用之间相隔时间不能太长 d.以上都是
  108.盛放显、定影液的槽子应定期清洗,并选用(a)清洗较为合适
  a.次氯酸钠 b.丙酮 c.家用去污剂 d.稀释的次氯酸
  109.使用胶片自动洗片机时,引起胶片乳剂隆起、变软或发粘的原因可能是(d)
  a.传送系统速度减慢和胶片重叠 b.胶片粘在辊棒上 c.胶片缠在辊棒上 d.以上都是
  110.胶片在高于20℃的水中长期浸泡冲洗可能(b):a.使明胶结晶 b.使明胶软化 c.产生黄斑 d.使图像变模糊
  111.胶片显影后不停显或不水洗就直接进入定影液,有可能(d)
  a.污染定影液 b.底片出现黄斑 c.底片出现灰雾 d.以上都是
  112.使用胶片自动洗片机时,如果干燥器的温度和空气循环均正常,则引起胶片干燥不良的原因可能是(a)
  a.定影液补充不足 b.洗片机不常使用而内部潮湿 c.水洗槽中辊棒不正 d.过显影
  113.造成定影液呈乳状的原因很可能是(a)
  a.配制定影液温度过高 b.环境温度急剧变化 c.使用了碳酸盐显影剂 d.使用了细粒胶片
  114.人工冲洗底片,射线源为X光,一般情况下的显影温度和显影时间分别为(c)
  a.5℃,5分钟 b.15℃,5分钟 c.20℃,5分钟 d.25℃,5分钟
  115.在手工洗相中,底片显影后浸入中止液(停显液,或称抑制液)中的时间一般为(b)
  a.5分钟 b.20-60秒 c.与显影时间相同 d.两倍的显影时间
  116.在一般情况下,为增加底片密度而延长显影时间会导致胶片的颗粒(a)
  a.变粗 b.变细 c.不均匀 d.显影时间长短与颗粒大小无关
  117.在显影过程中应翻动胶片或搅动显影液,其目的是(b)
  a.保护胶片,使其免受过大压力 b.使胶片表面的显影液更新
  c.使胶片表面上未曝光的银粒子散开 d.防止产生网状皱纹
  118.显影时,哪一条件的变化会导致影象颗粒粗大?(d)
  a.显影液活力降低 b.显影液搅动过度 c.显影时间过短 d.显影温度过高
  119.从胶片放入定影液到胶片乳黄色消失的时间叫做(a): a.通透时间 b.定影时间 c.硬化时间 d.氧化时间
  120.在显影操作过程中,显影液的温度应控制在(c): a.室温 b.18±2℃ c.20±2℃ d.24±2℃
  121.手工冲洗胶片时,如果不使用停影液,胶片应(c)
  a.直接放入定影液 b.显影时间缩短一分钟后直接放入定影液 c.定影前在活水中至少冲洗2分钟
  d.显影时间缩短一分钟,定影前在活水中至少冲洗2分钟
  122.底片冲洗过程中,在水洗后若将底片浸到润湿剂(wetting agent)中,其目的是为了要(c)
  a.防止底片变形 b.防止底片变黑 c.防止底片水痕 d.水洗之后不可将底片浸到润湿剂
  123.一般标准的显影温度是(b):a.18℃ b.20℃ c.25℃ d.30℃
  124.如何避免底片上的水痕?(b)
  a.将湿的底片快速干燥 b.将湿的底片浸入润湿剂中1至2分钟,然后再取出干燥
  c.使用新鲜的定影液 d.用新鲜的水冲洗时间长一些
  125.底片冲洗后放入鼓风干燥机干燥的温度限制一般为(c):a. 70℃ b. 90℃ c. 50℃ d.可任意调节
  126.定影时间一般(d):a.与显影时间相同 b.为显影时间的两倍 c.底片变透明的时间 d.底片变透明时间的两倍
  127.冲洗底片必须用到的三种液体是(c)
  a.停止液、显影液、水 b.停止液、定影液、水 c.显影液、定影液、水 d.冰醋酸、水、停止液
  128.底片水洗参数有哪些?(d):a.水流量 b.时间 c.温度 d.以上都是
  129.在容许范围内,显影液温度越高,则显影时间越(a):a.短 b.长 c.不变 d.不一定
  130.底片冲洗后使用干燥机时,热空气温度不宜超过50℃,其原因主要是防止(d)
  a.水痕条像 b.颗粒不均匀 c.污染 d.胶层熔化或变形
  131.手工洗片的底片水洗时间视水温及水流速度而定,一般而言,水温最好保持在(a)
  a.65-80ºF b.65-80℃ c.15℃以下 d.50℃以上
  132.底片冲洗中,定影液与冲洗用水的水温若相差超过15ºF时,可能会发生(b)
  a.底片上乳剂层脱落 b.底片上乳剂层不均匀膨胀 c.底片产生大理石斑纹 d.底片上黑度不均匀
  133.若是显影液不合适或配制错误,将会导致(d)
  a.衬度不够或过大 b.黑度不够或偏高 c.灰雾或有沉淀物 d.以上都是
  134.人工槽洗相时,底片在中止液(抑制液)中的时间为(b)a.5分钟 b.30-60秒 c.与显影同样时间 d.两倍显影时间
  135.当透过厚钢板后的窄束X射线再透过屏蔽好的12mm厚的钢板,其照射率为透过12毫米钢板前的1/16,则钢对此射线的半值层为(c):a.1mm b.2mm c.3mm d.4mm
  136.在离X射线管焦点2米处测出透过衰减系数(吸收系数)为1.2cm-1的钢板后的窄束X射线照射率为1.2R/h,钢板对此射线的半值层为(a):a.0.58cm b.1.16cm c.2.32cm d.4.64cm
  137.某物质对某线质的X射线的半值层为1.6mm,如其线质在透过物质时不变,则其(1/20)值层应为(a)
  a.6.9mm b.5.9mm c.4.9mm d.3.9mm
  138.当透过厚钢板后的窄束X射线再透过屏蔽好的12mm厚的钢板,其照射率为透过12毫米钢板前的1/16,则钢对此射线的吸收系数为(b):a.1.31cm-1 b.2.31cm-1 c.3.31cm-1 d.4.31cm-1
  139.母材厚度10毫米,焊冠3毫米的钢焊缝,已知X射线对该试件的半值层为1.5mm,其吸收系数应为(a)
  a.4.6cm-1 b.3.6cm-1 c.2.6cm-1 d.1.6cm-1
  140.铅的密度为11.4,钢的密度为7.8,铅的密度约为钢的1.5倍,用220KV的X射线进行照相时,2.5mm厚的铅吸收相当于30mm厚钢的吸收,因此铅的吸收是钢的多少倍?(b):a.8倍 b.12倍 c.16倍 d.24倍
  141.γ射线源确定后,γ射线的波长分布和射线束强度是无法调节的,可改变的因素只有(d)
  a.焦点 b.曝光时间 c.焦距 d.b和c
  142.γ射线源确定后,γ射线的波长分布和射线束强度还可以调节吗?(b)
  a.可以 b.不可以 c.有时可以 d.有时不可以
  143.用60Coγ射线源检查钢材时,能检查的厚度范围是(c)
  a.50mm以内或其当量厚度 b.100mm以内或其当量厚度 c.200mm以内或其当量厚度 d.270mm以内或其当量厚度
  144.60Co的半衰期为5.3年,如放射源已存放三年,则摄影时其曝光时间应增加多少?(b)
  a.约37% b.约49% c.约70% d.约57%
  145.192Ir的半衰期为75天,若目前检验工件的最佳曝光时间为20分钟,经过150天后,在相同的摄影条件下要达到同样的照相效果,曝光时间需要多少分钟?(d):a.20分钟 b.60分钟 c.120分钟 d.80分钟
  146.已知放射源192Ir在焦距1米时,曝光时间为60分钟,若把曝光时间缩短到15分钟,则需要将焦距调整为多少?(a)
  a.0.5m b.1m c.0.1m d.0.2m
  147.已知γ射线源192Ir的放射性强度是10Ci,当焦距为400毫米时刻得到正确的曝光量,但影像不够清晰,若把焦距增加到800毫米,这就需要一个新的射线源,这一新的射线源其强度应为多少Ci?(c)
  a.20Ci b.30Ci c.40Ci d.60Ci
  148.下列伽马射线源中适合透照厚度为60-150毫米钢工件的是(d):a.铱192 b.铯137 c.铥170 d.钴60
  149.下列四种放射性同位素中,可用来透照厚度为2~10mm的薄壁管,辐射特性类似于150~250KV X射线的是(d)
  a.192Ir b.137Cs c.60Co d.169Yb
  150.利用γ射线探伤时,若要增加射线强度可以采用(b)a.增加焦距 b.减小焦距 c.减小曝光时间 d.三者均可
  151.180mm厚的钢试件射线照相,最可能使用的γ射线源是(a)a.60Co b.170Tm c.192Ir d.137Cs
  152.可使用铱192照相的钢试件厚度范围是(d)a.125~200mm b.8~60mm c.4~15mm d.20~100mm
  153.60Co源的半衰期为5.3年,用一个新源进行射线照相可得到满意的射线底片,两年后用该源对同一工件按同样条件进行射线照相,为得到同样的底片,曝光时间(c)a.不变 b.约延长10% c.约延长30% d.约延长60-100%
  154.192Ir源的半衰期为75天,在某时间对某物体透照时的最佳曝光时间为40分钟,经过5个月后,用该源对同一物体透照时,为得到同样黑度的射线底片,应选用的曝光时间为(c):a.30分钟 b.2小时 c.2小时40分 d.4小时
  155.用60Co源透照某一零件,曝光时间为10分钟,焦距为600毫米,若将焦距变为300毫米,为得到同样黑度的底片,其曝光时间应为(b):a.1.2分钟 b.2.5分钟 c.5分钟 d.7.5分钟
  156.铱192一般对钢铁材料的检测范围为(c):a.38-200mm b.25-90mm c.19-70mm d.50-100mm
  157.铱192的半衰期为75天,若出厂时为100Ci,则该源在经过10个月减到约为多少Ci?(d)
  a.50Ci b.25Ci c.12.5Ci d.6.25Ci
  158.铱192的强度为80Ci,射线照相时射源至底片距离50cm,底片黑度2.0,现射源衰退至20Ci,要以同样的照相时间的到同样的结果,则射源至底片的距离应为多少?(b):a.12.5cm b.25cm c.100cm d.200cm
  159.有铱192射源强度为50Ci,欲照射2英寸厚度的钢板时曝光系数为0.95,如射源至底片距离25英寸,则曝光时间应为(c)a.0.75分钟 b.0.95分钟 c.11.9分钟 d.95分钟
  160.查曝光表知射源至底片距离600mm时,需要80居里分钟的曝光量才能得到黑度适当的影像,但实际照像现场限制射源至底片的距离为300mm,射源现有强度20居里,则实际照射时间为多少?(b)
  a.约30秒 b.约1分钟 c.约2分钟 d.约4分钟
  161.铱192射源强度50居里,欲照射2.5英寸厚钢板时的曝光系数为2.5,如射源至底片距离为20英寸,则曝光时间应为(c)
  a.5分钟 b.10分钟 c.20分钟 d.40分钟
  162.国内工业射线检测所使用的伽玛射线源大多为(b):a.自然同位素 b.192Ir或60Co c.60Co或238U d.192Ir或238U
  163.对150毫米厚的钢试样进行射线照相检测时,一般采用哪种γ射线源?(a):a.60Co b.170Tu c.192Ir d.137Cs
  164.下面哪种射源检测厚度5英寸的钢为较佳?(b):a.192Ir b.60Co c.137Cs d.170Tm
  165.为了射线照像的品质与灵敏度,伽玛射源的选择应选择(a)a.比活性大的 b.比活性小的 c.能量大的 d.能量小的
  166.把密度与相对曝光量各作为纵、横坐标量的这条曲线称为(d)
  a.灵敏度曲线 b.D-lgE曲线 c.感光度曲线 d.b和c都对
  167.把密度与相对曝光量各作为纵、横坐标量的这条曲线称为(d)
  a.灵敏度曲线 b.D-lgE曲线 c.H-D曲线 d.b和c都对
  168.用曝光曲线确定(b)的曝光量最为合适:a.复杂构件 b.均匀板材 c.阶梯块 d.异种材料
  169.曝光曲线可以是以曝光量为纵坐标、工件厚度为横坐标,曲线为管电压,但必须固定其他哪些透照参数?(h)
  a.底片黑度 b.焦距 c.X射线机型别 d.胶片型别 e.暗室处理条件 f.增感条件 g.工件材料 h.以上都是
  170.制作曝光曲线使用的试块型式是(c):a.孔型透度计 b.线型透度计 c.阶梯型透度计 d.以上都不是
  171.曝光曲线是无法在全部都是变量的情况下制作的,一定要在一组给定的固定参数条件下制作,它们包括焦距、胶片型号、规定密度、暗室处理条件、X射线机型号以及增感屏型号等,而其基本参数只能是哪些变量?(d)
  a.管电压值 b.曝光量 c.材料厚度 d.以上都是
  172.曝光曲线是无法在全部都是变量的情况下制作的,一定要在一组给定的固定参数条件下制作,它们包括焦距、胶片型号、规定密度、暗室处理条件、X射线机型号以及增感屏型号等,而其基本参数只能是哪些变量?(d)
  a.管电压值 b.管电流x曝光时间 c.材料厚度 d.以上都是
  173.有一板厚为25mm的钢试样需要进行X射线照相,如选用250KVP时,则从右图的曝光曲线查得曝光量为多少?(b)
  a.6mA•min b.3.2mA•min c.9mA•min d.5.5mA•min
  174.对同一台X射线探伤机,在使用一定时间后,其曝光曲线应该更新,重新制作,这是因为(a)
  a.X射线管会老化 b.X射线管的真空度降低 c.外部电源变化 d.无需更新
  175.每一台X射线探伤机都必须制作专用的曝光曲线,这是因为对于不同的仪器,即使高压和毫安示值相同,而所产生的X射线束的哪些参量不同?(d):a.低压与高压 b.管电流 c.曝光量 d.强度和波长
  
  176.曝光曲线的斜率越大,意味着一次透照允许的厚度差范围(b)
  a.越大 b.越小 c.曝光曲线的斜率与透照厚度差范围无关 d.以上都不对
  177.从曝光曲线上的斜率可以知道不同透照电压的厚度宽容度(b):a.相同 b.不同 c.看不出 d.以上都不对
  178.表示工件厚度、千伏和曝光量之间关系的曲线叫做(a)a.曝光曲线 b.特性曲线 c.吸收曲线 d.灵敏度曲线
  179.制作曝光曲线的步骤中,首先要(a)
  a.制作相应材料的阶梯试块用于进行射线照相 b.对几个已知厚度的工件进行照相
  c.记下实际照相底片同标准黑度的差别 d.标出曝光曲线上的曝光量
  180.在制作曝光曲线时,除了管电压、管电流、曝光时间、工件厚度为变量外,其他哪些参量必须固定?(g)
  a.焦距 b.胶片型号 c.X射线机 d.增感屏类型与规格 e.显影条件 f.底片黑度 g.以上都是
  181.X光机使用一段时间后,其原有的曝光曲线已不符合需要,而应当再重新制作新的曝光曲线,其主要原因是(c)
  a.原曝光曲线用久变脏、破损,需要换新 b.电流表、电压表使用长时间后不准确
  c.X光管老化,产生的X射线能量变低 d.以上都对
  182.制作X光曝光表时,下列哪些无需备注在图表上?(d):a.焦距 b.胶片种类 c.黑度 d.以上因素均需备注
  183.工件内部如有一扁平状缺陷,当它的平面法线与射线方向成什么角度时,在底片上的影像最清晰?(c)
  a.成45°夹角时 b.成180°夹角时 c.成90°夹角时 d.成60°夹角时
  184.关于底片不清晰度,下面哪种叙述是正确的?(b)
  a.它与物体至胶片的距离成正比,与焦点大小成反比 b.它与射源至物体的距离成反比,与焦点大小成正比
  c.它与物体至胶片的距离成反比,与射源至物体的距离成正比 d.它与焦点大小和物体至胶片的距离成反比
  185.固有不清晰度与(d)有关:a.胶片本身 b.增感屏 c.射线能量 d.以上都是
  186.胶片固有不清晰度除与胶片本身性质相关外,还取决于(b)a.射线强度 b.射线能量 c.增感屏种类 d.暗室处理
  187.增大射源到胶片的距离,影像清晰度将会(a):a.提高 b.降低 c.不变 d.降低的数量可忽略不计
  188.影响物体影像清晰度的因素是(d):a.胶片类型 b.增感屏类型 c.射线质量 d.以上都是
  189.影响射线底片清晰度的主要因素是(d)a.固有不清晰度 b.几何不清晰度 c.散射线 d.以上都是
  190.影响射线照相清晰度的因素是(e)
  a.胶片与增感屏的配合 b.焦距 c.管电压与管电流 d.胶片处理 e.以上都是
  191.用铅箔增感屏得到的底片,物体影像的清晰度不好,要想改善其清晰度,可以(c)
  a.改用粗粒胶片 b.改用大焦点射线源 c.增大射线源到胶片的距离 d.改用荧光增感屏
  192.试样中靠近射线源侧的缺陷影像,在(b)情况下其清晰度不好
  a.射线源到物体距离增大 b.试样厚度增大 c.焦点尺寸减小 d.试样厚度减小
  193.试样中靠近射线源侧的缺陷影像,在(b)情况下其清晰度不好
  a.大焦距 b.试样厚度大 c.小焦点 d.试样厚度小
  194.影响底片清晰度的因素有(d):a.散射线 b.几何因素 c.胶片粒度 d.以上都是
  195.底片的清晰度是指影像清晰的程度,它决定于(d)
  a.所用的胶片 b.增感屏型别 c.辐射能量以及几何因素 d.以上都是 e.以上都不是
  196.底片的清晰度是指影像清晰的程度,它决定于(e)
  a.所用的胶片 b.增感屏型别 c.辐射能量 d.几何因素 e.以上都是
  197.下列哪种因素对提高射线照相清晰度是有利的?(b)
  a.不考虑胶片与被探测工件之间的距离 b.胶片应尽可能紧贴被探测工件
  c.不考虑胶片放置方向与射线束的方向 d.射源的中心束应与胶片倾斜一定角度
  198.下列哪种因素对提高射线照相清晰度是有利的?(d)
  a.不考虑胶片与被探测工件之间的距离 b.胶片应尽可能远离被探测工件
  c.不考虑胶片放置方向与射线束的方向 d.射源的中心束应尽可能与胶片垂直
  199.影响射线照相影像质量因素的清晰度之胶片颗粒性与屏斑等的相关因素包括(e)
  a.胶片型别 b.显影处理 c.射线能量 d.增感屏型别 e.以上都是
  200.影响射线照相影像质量因素的清晰度之相关的几何因素包括(g)
  a.焦点尺寸 b.焦距 c.试样与胶片距离 d.试样厚度变化的急剧程度
  e.胶片与增感屏的贴紧程度 f.照相过程中试样与射源的相对位置是否固定 g.以上都是
  201.在射线照相中,除了几何不清晰度与胶片固有不清晰度以外,还有(d)也会影响射线照相清晰度
  a.运动不清晰度 b.金属箔增感屏不清晰度 c.荧光增感屏不清晰度 d.以上都是
  202.在射线照相检验中主要应考虑的不清晰度因素是(c):a.几何不清晰度 b.胶片固有不清晰度 c.两者都是
  203.下列四种因素中对底片的清晰度无任何影响的是(d)
  a.射源的焦点尺寸 b.增感屏的类型 c.射线的能量 d.底片的黑度
  204.(b)底片清晰度越高: XXXX值越大 XXXX值越小
  205.(a)底片清晰度越高: a.胶片颗粒度越小 b.胶片颗粒度越大
  206.(a)底片清晰度越高: a.增感屏的颗粒度越小 b.增感屏的颗粒度越大
  207.(a)底片清晰度越高: a.胶片与被照件贴得很紧 b.胶片与被照件贴得越不紧密
  208.工件中靠射线源一侧的缺陷图像,在下列哪种情况下清晰度最差?(c)
  a.焦距增大 b.焦点尺寸减小 c.工件厚度增大 d.将胶片与工件贴紧
  209.下列哪一参数不是影响小缺陷射线照相清晰度和对比度的共同因素?(b)
  a.焦点或射源尺寸 b.黑度 c.增感屏类型 d.射线线质
  210.引起影像不清晰的原因可能是(d)
  a.射源至底片的距离太短 b.增感屏与底片没有紧密接触 c.底片的粒子粗大 d.以上都有可能
  211.为了要改进射线检测的清晰度而选用低速底片时,需要(b)
  a.较低的管电压 b.较多的曝光时间 c.较低的管电流 d.较短的曝光时间
  212.影响射线照像影像清晰度的三个因素为(d)
  a.散射、工件几何形状及底片黑度 b.底片黑度、曝光时间及管电流
  c.曝光时间、管电流及底片颗粒度 d.散射、工件几何形状及底片颗粒度
  213.下列哪项不是底片清晰度变差的原因?(d)a.增感屏与底片接触不良 b.底片颗粒大 c.底片移动 d.工件厚度减小
  214.下列哪项会降低底片清晰度?(c):a.选用慢速底片 b.选用低能量射线 c.延长显影时间 d.以上都不是
  215.引起射线底片清晰度差的原因可能是(d)
  a.焦点尺寸过大 b.射源到胶片的距离过小 c.胶片与增感屏接触不良 d.以上都是
  216.对粒度大的X射线胶片,下面关于曝光速度的叙述哪个是正确的?(a)
  a.其曝光速度比粒度小的胶片快 b.其照相清晰度比颗粒小的胶片好
  c.其曝光速度比粒度小的胶片慢 d.其曝光时间比粒度小的胶片长
  217.对粒度小的X射线胶片,下面关于曝光速度的叙述哪个是错误的?(a)
  a.其曝光速度比粒度大的胶片快 b.其照相清晰度比颗粒大的胶片好
  c.其曝光速度比粒度大的胶片慢 d.其曝光时间比粒度大的胶片长
  218.胶片衬度是显示由于一定量的曝光量变化所引起的一固有能力(b)
  a.粒度变化 b.密度差 c.感光速度变化 d.灰雾度变化
  219.如果试样一定,射线底片的衬度决定于下列哪些因素?(d)
  a.管电压(或放射源种类)以及胶片的衬度特性 b.增感屏的种类以及曝光密度
  c.暗室处理和散射线的防止 d.以上都是
  220.要提高射线照相的主因衬度,则要求射线线质尽量(b)些为好:a.硬 b.软 c.硬软都一样 d.与线质无关
  221.要提高主因衬度,则要求射线尽量(b)些为好:a.硬 b.软 c.主因衬度与射线软硬无关
  222.在通常可测范围内,胶片的衬度随密度提高而(a):a.增加 b.减小 c.不变 d.衬度与密度无关
  223.在通常可测范围内,底片衬度随底片密度的提高而(a):a.增加 b.减小 c.不变 d.无规律变化
  224.一般来说,在试件材质一定的情况下,主因衬度随管电压的降低而(a)a.升高 b.降低 c.主因衬度与管电压无关
  225.胶片衬度是指胶片特性曲线上某点的斜率,它决定于(d)a.胶片型别 b.暗室处理条件 c.密度值 d.以上都是
  226.透过物体两不同厚度处所得到的射线强度比值通常称为(a):a.主因衬度 b.胶片衬度 c.底片黑度 d.以上都是
  227.降低底片衬度可采取下列哪种措施?(c)
  a.增加辐射源与物体间的距离 b.尽量提高X射线管的管电流 c.尽量提高X射线管的管电压 d.尽量增加显影时间
  228.降低底片衬度可采取下列哪种措施?(c)
  a.增大焦距 b.降低X射线管的管电流 c.降低X射线管的管电压 d.以上都不对
  229.增大底片衬度可采取下列哪种措施?(c)
  a.降低X射线管的管电流 b.增大X射线管的管电流 c.降低X射线管的管电压 d.增大X射线管的管电压
  230.影响射线照相影像质量因素的主因衬度相关因素包括(d)
  a.试样厚度、成份、密度的差别 b.射线的硬度 c.散射 d.以上都是
  231.影响射线照相影像质量因素的胶片衬度相关因素包括(e)
  a.胶片类型 b.显影处理工艺 c.底片黑度 d.增感屏类型 e.以上都是
  232.影响射线照相影像质量因素的胶片衬度相关因素包括(e)
  a.胶片型别 b.显影处理的程度 c.底片密度 d.增感屏型别与厚度 e.以上都是
  233.使用铅箔增感屏时,应令其与胶片紧贴,这样的优点是(d)
  a.能更好地使射线激发铅箔而产生电子和二次辐射线,对胶片的感光作用增强而减少曝光时间
  b.更能使铅箔吸收较长波长的辐射线,从而提高底片的质量
  c.对一次辐射线的增强比对散射线的增强更大,因而底片质量也就提高了
  d.以上都是
  234.铅箔与底片的紧密接触可以(c)
  a.增加散射线 b.减小影像对比度 c.增加感光效果 d.只能用于X射线而不能用于伽玛射线
  235.胶片的增感因子在40-400KV之间时的变化情况是(b)
  a.相同的 b.不规则的 c.随着管电压增大而增大 d.随着管电压降低而减小
  236.当采用下列哪种方法时,几乎所有的曝光均需要使用铅箔增感屏?(b)
  a.荧光屏观察法 b.高KV值射线照相法 c.低KV值射线照相法 d.干板射线照相法
  237.当管电压高于(b)千伏时,铅箔增感屏才起增感作用:a.1000 b.150 c.325 d.2000
  238.当管电压高于(b)时,铅箔增感屏才起增感作用:a.1MeV b.150KV c.25KV d.320KV
  239.下列关于增感屏使用的叙述中,哪种是正确的?(a)
  a.用荧光增感屏进行X射线照相时,曝光时间可以显著缩短,但底片的像质较差
  b.荧光增感屏的增感作用不如铅箔增感屏
  c.用铅箔增感屏时,若X射线管的管电压太高,会产生磷光现象
  d.用荧光增感屏进行X射线照相时,曝光时间虽然较长,但底片的像质较好
  240.下列关于增感屏使用的叙述中,哪种是正确的?(a)
  a.在管电压不太高时,使用铅箔增感屏进行X射线照相的主要目的是为了减少散射线的影响
  b.荧光增感屏的增感作用不如铅箔增感屏
  c.用铅箔增感屏时,若X射线管的管电压太高,会产生荧光现象
  d.用铅箔增感屏进行X射线照相时,曝光时间可以显著缩短,但底片的像质较差
  241.对于X射线照相使用的铅箔增感屏,前屏和后屏的厚度一般为多少毫米?(a)
  a.前屏0.02-0.10mm,后屏0.02-0.10mm b.前屏0.04-0.15mm,后屏0.04-0.15mm
  c.前屏0.001-0.003mm,后屏0.004-0.006mm d.前屏1.1-1.4mm,后屏1.5-2.0mm
  242.对于γ射线照相使用的铅箔增感屏,前屏和后屏的厚度一般为多少毫米?(a)
  a.前屏0.1-0.15mm,后屏0.15-0.50mm b.前屏0.4-0.6mm,后屏0.6-0.8mm
  c.前屏0.02-0.04mm,后屏0.08-0.10mm d.前屏2-4mm,后屏3-5mm
  243.射线检测中为什么金属增感屏的前屏比较薄?(c)
  a.因背面有散射 b.因前面有散射 c.因怕过滤效果太大,需增加曝光量 d.因怕过滤效果太小,需增加曝光量
  244.铅增感屏后屏的厚度选择应(c)
  a.比前屏厚 b.比前屏薄 c.视是否能防止背面散射而定 d.视是否能防止内部散射而定
  245.采用荧光增感屏的目的主要在于它的增感系数高,能大大缩短曝光时间,但由于下述哪些原因而只能在特殊需要时才使用?(d):a.清晰度不高 b.存在屏斑现象 c.散射线较严重 d.以上都是
  246.荧光增感屏在射线停止激发后仍继续发光,造成底片质量严重下降,这种光称为(a)
  a.余辉(磷光) b.紫外光 c.红外光 d.散射线
  247.如果把刚经受过可见光照射的荧光增感屏马上与未曝光的胶片装入一个暗盒中时,会使胶片产生严重灰雾,这是因为荧光增感屏的荧光物质有(a)现象:a.余辉(磷光) b.光电感应 c.红外感应 d.散射线
  248.当选用50KV的管电压进行X射线探伤时,应采用何种增感屏?(b)
  a.荧光增感屏 b.无需增感屏 c.铅箔增感屏 d.金属荧光增感屏
  249.使用铅增感屏时,如果(c),会造成射线照相图像模糊
  a.增感屏上有水珠 b.增感屏表面有划伤 c.增感屏与胶片接触不良 d.增感屏与胶片之间有外来物
  250.使用铅增感屏时,如果(c),会造成射线照相图像模糊
  a.增感屏上有油脂 b.增感屏表面有锡包复层 c.增感屏与胶片接触不良 d.增感屏与胶片之间有外来物
  251.几何因素不适当、胶片和铅箔增感屏接触不良以及胶片粒度大小将可能造成(b)
  a.底片黑度过高 b.清晰度不好 c.底片灰雾度大 d.底片黑度过低
  252.金属增感屏的增感作用与下述哪个因素有关?(d):a.射线能量 b.屏的厚度 c.胶片特性 d.以上都是
  253.下述有关增感屏的清洁,正确的是(d)
  a.铅增感屏无需特别清理,表面污损不会影响其功能 b.荧光增感屏无需特别清理,表面污损不会影响其功能
  c.铅增感屏最好用电动钢丝刷清理表面,即快速又光亮 d.铅增感屏可用软布沾酒精擦拭干净
  254.使用铅箔增感屏可以缩短曝光时间,提高底片的黑度,其原因是(d)
  a.铅箔增感屏能发出荧光,从而加速胶片感光 b.铅箔增感屏能发出可见光;
  c.铅箔增感屏能发出红外线 d.铅箔增感屏受Χ或γ射线照射时,发出电子从而有助于胶片变黑
  255.由于射线源的尺寸、射线源到被检件的距离、被检件到胶片距离等原因,在显示缺陷的边缘轮廓时可能发生缺乏完整的清晰度,这个由于几何原因引起的不清晰度称为(b):a.像散效应 b.半影 c.图像失真度 d.图像投影模糊
  256.由于射线源的尺寸、射线源到被检件的距离、被检件到胶片距离等原因,在显示缺陷的边缘轮廓时可能发生缺乏完整的清晰度,这个由于几何原因引起的不清晰度称为(b):a.像散效应 b.几何模糊度 c.图像畸变 d.图像投影模糊
  257.由于射线源的尺寸、射线源到被检件的距离、被检件到胶片距离等原因,在显示缺陷的边缘轮廓时可能发生缺乏完整的清晰度,这个由于几何原因引起的不清晰度称为(b):a.像散效应 b.几何不清晰度 c.图像畸变 d.图像投影模糊
  258.影响射线照相对比度的因素有(d):a.胶片种类 b.射线的质和量 c.胶片的暗室处理工艺 d.以上都是
  259.影响射线照相对比度的因素有(d):a.胶片种类 b.管电压与管电流 c.胶片的暗室处理工艺 d.以上都是
  260.当一次透照厚度差较大的工件时,可采用下列哪种方法来调整被检物体厚度差过大部位的对比度?(e)
  a.增加管电压 b.在X射线管处用一块滤光板并增加曝光时间 c.减少曝光时间 d.降低管电流 e.a和b都可以
  261.下列各因素中对射线照相影像对比度影响最大的是(a):a.管电压 b.管电流 c.曝光时间 d.焦距
  262.与缺陷影像的对比度相关的因素是(a):a.采用的射线照相技术 b.缺陷性质 c.缺陷尺寸与取向 d.以上都是
  263.为了得到较高的射线照相对比度,主要应采取的措施是(d)
  a.选用可能的较低能量的射线透照 b.采取各种措施减少到达胶片的散射线强度
  c.选用质量优良的胶片和采用良好的暗室处理技术 d.以上都是
  264.为了得到较高的射线照相对比度,主要应采取的措施是(d)
  a.选用可能的较低管电压透照 b.做好散射线防护
  c.选用梯度较高的胶片和采用良好的暗室处理技术 d.以上都是
  265.下面的叙述中正确的是(d)
  a.射线照片上影像的对比度决定了沿射线透照方向上可识别的细节尺寸
  b.射线照片上影像的不清晰度决定了在垂直于射线透照方向上可识别的细节尺寸
  c.射线照片上影像的颗粒度决定了影像可记录的细节最小尺寸 d.以上都对
  266.下面的叙述中正确的是(c)
  a.射线照片上影像的对比度决定了在垂直于射线透照方向上可识别的细节尺寸
  b.射线照片上影像的不清晰度决定了沿射线透照方向上可识别的细节尺寸
  c.射线照片上影像的颗粒度决定了影像可记录的细节最小尺寸 d.以上都对
  267.工件对比度与工件间的厚度差成(a):a.正比 b.反比 c.平方正比 d.平方反比
  268.影响主因对比度(工件对比度)的是(d)a.射线的波长 b.散射线 c.工件的厚度差 d.以上都是
  269.下列哪一因素的变化不会改变射线照相的主因对比度?(d)
  a.试件的材质 b.射线的能谱 c.散射线的分布 d.毫分分或居里分
  270.影响底片对比度的主要因素是(d): a.射线硬度 b.X光管焦点 c.曝光量 d.a和c
  271.X射线照相时要想得到好的工件对比度,应(d):a.提高管电流 b.降低管电流 c.提高管电压 d.降低管电压
  272.下列哪种参数最常用来调整工件对比度?(b):a.焦距 b.管电压 c.管电流 d.焦点尺寸
  273.对比度与清晰度是两个决定射线照相(b)的因素:a.黑度 b.灵敏度 c.强度 d.粒子
  274.管电流一定时,为了增加底片的对比度,应该(c)
  a.增加KV,增加曝光时间 b.增加KV,减少曝光时间 c.减少KV,增加曝光时间 d.减少KV,减少曝光时间
  275.工件对比度会受下述哪个因素影响?(d):a.射线本质 b.散射线 c.工件的厚度差 d.以上都是
  276.当试件的厚度范围相差太大,引起过大的工件对比度,可使用哪种方法校正?(d)
  a.增加管电压 b.使用过滤器并增加曝光时间 c.减少照相时间 d.a和b均对
  277.哪种方式可以减小射线检测对比度?(c):a.增大焦距 b.减少焦距 c.减小射线波长 d.增加射线波长
  278.下列哪项不属于决定工件对比度的因素?(c)
  a.工件的特性 b.所用射线的品质 c.所用胶片的种类 d.散射辐射的强度及其分布情况
  279.RT法规对射线能量有最高限制的原因是基于控制(d):a.几何不清晰度 b.散射 c.底片对比度 d.工件对比度
  280.RT法规对底片黑度有最低要求的原因是基于控制(c):a.几何不清晰度 b.散射 c.底片对比度 d.工件对比度
  281.若检测条件相同时,对铁质试件(原子序数26)中一缺陷内含下列哪种材质,其影像对比度最佳?(a)
  a.锂(原子序数2) b.钠(原子序数11) c.铝(原子序数13) d.钙(原子序数20)
  282.在射线检测中由于底片的种类、底片的处理、底片黑度或增感屏等因素所造成的对比度称为(b)
  a.工件对比度 b.底片对比度 c.射线对比度 d.品质对比度
  283.影响射线照相黑度的因素有(d):a.射线强度 b.胶片与增感屏种类 c.焦距 d.以上都是
  284.影响射线照相黑度的因素有(d):a.管电流 b.胶片与增感屏类型 c.胶片到射线源的距离 d.以上都是
  285.影响射线照相黑度的因素有(d):a.曝光量 b.胶片与增感屏类型 c.胶片的暗室处理工艺 d.以上都是
  286.X射线照相结果底片黑度太低,判断为射线穿透力不够,应如何改进才能得到规定的黑度?(b)
  a.增加管电流 b.增加管电压 c.增加曝光时间 d.降低射源至底片的距离
  287.某试件中间部分薄,四周厚,射线检测时要使此两部分均达所要求的黑度与品质则应(d)
  a.不同厚度分别照相 b.射源与试件之间加一适当的滤板 c.装两张不同速度的底片一次照相 d.以上都对
  288.根据X射线机的X射线束辐射角θ计算透照场范围的公式为(a)
  a.D=2F•tg(θ/2) b.D=2tg(θ/2F) c.D=F•tg(θ/2) d.D=2tg(F•θ/2) (式中[s:3]-透照场直径;F-焦距)
  289.射线探伤时,照射区域的选择应掌握什么原则?(a)
  a.使射线强度计算值不小于70-90% b.根据X射线的辐射角和焦距来选择 c.选择的越大越好 d.尽量选择的小些
  290.下列因素中对有效透照区大小影响最大的是(c)
  a.射线源焦点尺寸 b.射线能量 c.射线源与胶片距离 d.以上都是
  291.假定管电压和曝光时间一定,当选用焦距500毫米,管电流5毫安时,能得到曝光适宜的底片,如果为了提高影像清晰度,要把焦距增加到1米,则在此新的焦距条件下,需要多大的管电流才能得到同样的曝光量?(a)
  a.20mA b.10mA c.50mA d.30mA
  292.对管电压和管电流都保持不变的某一个曝光量,当焦距从1.2米改变为800毫米时,曝光时间应从原来的10分钟改成多少分钟?(b):a.2.2min b.4.4min c.7min d.15min
  293.假设正确的曝光量是20mA•4min,如果管电流改为10mA,则曝光时间应是多少?(d)
  a.2min b.4min c.10min d.8min
  294.根据互易定律,当管电压和焦距一定时,为了得到同样的照相效果,管电流与曝光时间的乘积应是(d)
  a.变量 b.任意数 c.小数 d.常数
  295.表达式:毫安x时间÷距离平方,称之为(d):a.胶片的梯度 b.互易定律 c.照相的对比度 d.曝光因子
  296.表达式:毫安x时间÷距离平方,称之为(d):a.胶片的平均梯度 b.互易定律 c.底片黑度 d.曝光系数
  297.200千伏时,钢和铜的射线照相当量系数分别为1.0和1.4,对25.4毫米厚的铜板进行射线照相,需要用(c)厚的钢的曝光量:a.17.8mm b.8.9mm c.35.6mm d.25.4mm
  298.X射线透照电压100千伏时,铝相对于钢的射线照相等效系数是0.08,对厚度30毫米的铝透照时,应采用厚度(d)毫米的钢的曝光量:a.4.2 b.3.6 c.3.0 d.2.4
  299.X射线透照电压100千伏时,铝相对于钢的射线照相等效系数是0.08,对厚度100毫米的铝透照时,应采用厚度(c)毫米的钢的曝光量:a.4.2 b.3.6 c.8.0 d.2.4
  300.以相同条件透照同一工件,若焦距缩短20%,则曝光时间可减少(b):a.64% b.36% c.20% d.18%
  301.以相同的条件透照同一工件,若焦距缩短20%,则灵敏度稍有降低,而曝光时间可减少多少?(b)
  a.64% b.36% c.30% d.60%
  302.以相同条件透照同一工件,若焦距从1米缩短到0.8米,则曝光时间可从原来的5分钟减少到(b)分钟
  a.1.8 b.3.2 c.4 d.4.1
  303.一定曝光量所需的曝光时间T与射源至底片的距离D的关系应为(b)
  a.T2/T1=D12/D22 b.T1/T2=D12/D22 c.T2/T1=D1/D2 d.T1/T2=D1/D2
  304.已知离射源1米处的照射率为5R/h,在该处放厚20毫米的钢板进行透照拍片,该射源对钢的半值层为10毫米,为了获得适当的底片黑度需要500mR,则每次拍片曝光时间应为多少分钟?(b):a.12 b.24 c.36 d.48
  305.用10居里的铱192射源在野外对距其1米处厚20毫米的钢进行透照拍片,已知该射源的电离常数为0.6Rhm/Ci,对钢的半值层为10毫米,为了获得2.0黑度的底片需要曝光多少分钟?(b):a.10 b.20 c.30 d.40
  306.在离铱192源1米处的照射率为6R/h,透照距离0.5米处厚20毫米的钢,已知钢的吸收系数为0.693cm-1且不随吸收体厚度而变,散射因子为2,所使用胶片在获得300mR时可达到2.0黑度,则要获得2.0黑度的底片需要曝光多少分钟?(a)
  a.1 b.5 c.10 d.15
  307.200kV时,铜相对钢的等效系数为1.4,对15mm铜板照相,需采用多厚钢的曝光量(b)
  a.11mm b.20mm c.13.6mm d.30mm
  308.用铅箔增感,焦距1200mm,曝光时间8分钟,得黑度1.5,现焦距改为600mm,为使黑度不变,曝光时间应为(b)
  a.1.6分钟 b.2分钟 c.1.25分钟 d.4分钟
  309.曝光因子中的管电流,曝光时间和焦距三者的关系是(b)
  a.管电流不变,时间与焦距的平方成反比 b.管电流不变,时间与焦距的平方成正比;
  c.焦距不变,管电流与曝光时间成正比 d.曝光时间不变,管电流与焦距成正比
  310.220千伏时,钢和铜的射线透照等效系数分别为1.0和1.4,此时对20毫米厚的铜板进行射线透照时,需采用钢曝光参数的厚度为(a): a.28毫米 b.26毫米 c.22毫米 d.18毫米
  311.射线照相中,按标准照相时,射源至底片距离80cm,曝光时间4分钟,现因现场空间限制,该距离必须缩短到40cm,如其它条件保持不变,则曝光时间应为(a):a.1分钟 b.2分钟 c.4分钟 d.8分钟
  312.X射线照相使用10mA电流和2分钟曝光时间,若其他因素不变,电流减至5mA,则曝光时间应为(c)
  a.1分钟 b.2分钟 c.4分钟 d.8分钟
  313.220KV X射线,钢和铜的射线照相等值系数分别为1.0和1.4,对2英寸厚的铜板进行射线检测,需要采用多少厚的钢曝光量?(b):a.0.7英寸 b.2.8英寸 c.1.4英寸 d.1.0英寸
  314.射线检测中,曝光可借计算方式求出,唯独下列哪项变动是无法直接计算,而必须借助曝光表查得?(a)
  a.电压 b.电流 c.距离 d.时间
  315.220KV X射线,钢和锌的射线等值系数分别为1.0和1.3,对0.5英寸厚的锌板进行射线检测,须采用多厚的钢曝光量?(b)a.0.7英寸钢 b.0.65英寸钢 c.1.3英寸钢 d.1.0英寸钢
  316.200千伏时,钢和铜的射线照相当量系数分别为1.0和1.4,对12.7毫米厚的铜板进行射线照相,需要用(a)厚的钢的曝光量:a.17.8mm b.8.9mm c.35.6mm d.25.4mm
  317.第一次曝光时,射源到胶片距离1.2米,曝光时间为60秒,若射源到胶片距离改为1.5米,为得到同样的结果,曝光时间应变为(b):a.74秒 b.99秒 c.58秒 d.120秒
  318.有一Ir-192射源强度为50居里,欲照射2.5英寸厚钢板时之曝光系数为2.5,如射源至底片距离为20英寸,则曝光时间应为(c):a.5分钟 b.10分钟 c.20分钟 d.40分钟
  319.被检工件的形状、厚度有差异时,可以采用哪些补偿方法进行射线照相?(d)
  a.液体补偿法 b.糊膏补偿法 c.固体补偿法 d.以上都可以
  320.被检工件的形状、厚度有差异时,可以采用哪些补偿方法进行射线照相?(d)
  a.多重底片法 b.补偿泥法 c.垫板补偿法 d.以上都可以
  321.采用与被透照工件对射线吸收性质相同或相近的材料制成,用于填补工件不同厚度部分,使工件的透照厚度趋于一致,这种被称之为(a):a.补偿块 b.补偿粉 c.补偿液 d.以上都是
  322.采用丝型像质计得到的射线照相灵敏度是相对灵敏度,其数学表达式为(a)
  a.K=(d/t)x100% b.K=(t/d)x100% c.K=d/t
  式中:K-射线照相灵敏度;d-底片上能发现的最细金属丝直径(mm);t-被检工件的穿透厚度(mm)
  323.影响射线照相灵敏度的因素有(d):a.黑度 b.清晰度 c.对比度 d.以上都是
  324.下列各因素中与射线照相灵敏度相关的是(d):a.管电压 b.曝光时间 c.焦距 d.以上都是
  325.射线照相灵敏度实际是(d)的一种综合评定:a.对比度 b.清晰度 c.颗粒度 d.三者都是
  326.钢板厚度15毫米,双面焊冠之和为5毫米的焊接件,在底片上能发现直径为0.4mm的钢丝透度计,这时所达到的灵敏度为下列哪一个?(b):a.1% b.2% c.3% d.1.5%
  327.为了真实的反映出透照灵敏度,在透照时(d)
  a.透度计种类要正确 b.透度计规格要正确 c.摆放位置要正确 d.以上全是
  328.对于厚度变化大的物件射线照相时,为了获得较大的宽容度,需要使用线质(a)的射线
  a.较硬 b.较软 c.宽容度与射线线质无关
  329.对于厚度变化大的物件射线照相时,为了获得较大的宽容度,需要使用线质较(a)的射线
  a.硬 b.软 c.硬软都一样 d.与线质无关
  330.为增大射线照相的宽容度可能采用的方法是(a)
  a.适当提高射线能量 b.适当延长曝光时间 c.适当加大焦距 d.以上都是
  331.采用适当提高透照电压方法透照变截面工件以提高厚度透照宽容度,比较正确的是按照(b)选用透照电压
  a.最小厚度 b.中等厚度 c.最大厚度 d.以上都可以
  332.为了增大X射线照相的宽容度,使同时曝光的零件厚截面与薄截面均得到适合观察的黑度,较好的做法是(c)
  a.采用金属荧光增感屏 b.在暗盒中叠放两张同型号的胶片 c.在暗盒中装两张感光速度不同的胶片 d.以上都不对
  333.在X射线探伤中,焦距应如何选择?(d)
  a.选得越大越好 b.选得越小越好 c.任意选择 d.根据透照面积及规定的几何模糊度来选择
  334.为了保证射线照相底片的质量,在选择射线源至胶片距离时,应考虑下述哪组因素?(d)
  a.源的放射性强度、胶片类型、增感屏的类型 b.源的放射性强度、胶片的尺寸、材料的厚度
  c.源的尺寸、源的放射性、试样与胶片的距离 d.源的尺寸、试样厚度、几何不清晰度
  335.射线源尺寸、试样厚度和射线源到试样的距离确定后,也就确定了下述什么参数?(c)
  a.底片上的密度 b.胶片的实际尺寸 c.底片上的不清晰度 d.底片上的对比度
  336.射线照相中确定焦距最小值的主要原则是考虑(a)a.几何模糊度 b.有效透照区域 c.透照物体厚度 d.以上都是
  337.以X光机(有效焦点尺寸3mm)检测厚度10mm的钢板,若要求几何不清晰度Ug为0.5,则射源至底片的距离至少应为多少?(c):a.60mm b.50mm c.70mm d.80mm
  338.用兆伏级射线设备时,增大焦距的目的主要是为了(a)
  a.增大照射场尺寸,从而获得一定的有效透照长度 b.减小几何不清晰度,使Ug=Ui;
  c.使波长较长的入射线在空气中衰减掉 d.以上都是
  339.选择适当的射源至胶片的距离,主要是考虑(c):a.对比度 b.黑度 c.模糊度 d.颗粒度
  340.(b)的距离叫焦距: a.焦点到工件表面 b.焦点到胶片 c.射线窗口到工件表面 d.射线窗口到胶片
  341.焦距越小(a):XXXX越大 XXXX越小 XXXX不变 XXXX是某一常数
  342.为了保证射线照相底片的质量,在选择射线源至胶片距离时,应考虑下述哪组因素?(d)
  a.源的放射性强度、胶片类型、增感屏的类型 b.源的放射性强度、胶片的尺寸、材料的厚度
  c.源的尺寸、源的放射性、试样与胶片的距离 d.源的尺寸、试样厚度、几何不清晰度
  343.双胶片技术是在同一暗盒中放置两张感光度不同的胶片同时曝光,感光度高的胶片应适于工件厚度较(a)部分的透照
  a.大 b.小 c.居中
  344.在双胶片技术中按照感光度高的胶片的曝光曲线选取感光度低的胶片后,应按照曝光曲线对(a)给出的曝光量进行透照:a.较大厚度 b.较小厚度 c.居中厚度 d.以上都不对
  345.双胶片技术是在同一暗盒中放置两张(a)不同的胶片同时进行透照的方法
  a.感光度 b.梯度 c.灰雾度 d.以上都不是
  346.在同一个暗盒中装两张不同感光速度的底片进行曝光的主要目的是(d)
  a.为了防止暗室处理不当而重新拍片 b.为了防止探伤工艺选择不当而重新拍片 c.为了防止胶片上缺陷而重新拍片
  d.用于厚度差较大工件的射线探伤,这样在不同厚度部件都能得到黑度适当的底片
  347.用双胶片法进行射线照相,要装两张不同感光速度的胶片,其选片原则是(c)
  a.应在黑度轴上有些重合 b.在黑度轴上无需重合 c.应在lgE轴上有些重合 d.在lgE轴上无需重合
  348.在进行焊缝射线照相时,线型透度计一般应放置在下列哪个位置?(b)
  a.钢板上面 b.焊缝上面 c.钢板底面 d.任意位置
  349.在对焊缝作射线照相时,线型像质计应放在有效照相范围的下述哪个位置?(b)
  a.透照场中心,焊缝上(与射线源同侧) b.透照场一端,焊缝上(与射线源同侧)
  c.透照场中心,焊缝上(与胶片同侧) d.透照场一端,焊缝上(与射线源异侧)
  350.使用孔洞型像质计作焊缝射线检测时应加垫片,其作用为(c)
  a.改善像质计影像 b.降低电子发射 c.模拟焊缝的补强高度 d.增强影像
  351.一个直径1米的圆柱体环焊缝射线照相,用铱192置于圆心一次照相,底片使用17英寸长,每张搭接25毫米,则透度计数量应为(c)
  a.每张底片一片透度计 b.每张底片两片透度计,分置底片两端
  c.只要三片透度计,相距120° d.只要四片透度计,相距90°
  352.使用孔洞型像质计对厚度50mm钢件射线照相,要得到2-1T的品质,则该透度计厚度为(b)
  a.0.5mm b.1.0mm c.5mm d.10mm
  353.像质计需得到2-2T之灵敏度时,对于1.5英寸厚的钢板,像质计的厚度应选择多少?(b)
  a.0.3英寸 b.0.03英寸 c.0.003英寸 d.3英寸
  354.钢丝透度计的灵敏度计算按(a)
  a.K=(d/T)100% b.(T/d)100% c.d100% d.以上全不是(d为钢丝直径,T为被透工件厚度)
  355.槽形透度计的灵敏度计算按(c)a.K=(T/X)100% b.(X/T)100% c.[X/(T+A)]100% d.以上a和c
  (X为可发现的最浅槽深;A是透度计总厚度;T为被透工件厚度)
  356.当几何不清晰度选择不当,或胶片与铅箔增感屏接触不良,或者胶片的粒度太大,可能会引起什么结果?(b)
  a.底片密度高 b.底片清晰度不好 c.底片有灰雾 d.底片密度低
  357.下列因素中可导致几何模糊度增大的是(d)
  a.射线源尺寸加大 b.射线源至物体距离减小 c.被透照物体厚度加大 d.以上都是
  358.影像放大率与几何不清晰度(d)
  a.实际上是一回事 b.没有直接关系 c.可以共同构成总的不清晰度 d.前者指影像放大系数,后者指影像的半影
  359.下列哪种原因会导致几何不清晰度减小?(d)
  a.射源尺寸减小 b.试件厚度减小 c.射源至物件距离增加 d.以上都是
  360.几何不清晰度Ug与射源至物件表面的距离(b):a.成正比 b.成反比 c.与距离平方成正比 d.与距离平方成反比
  361.射线透照的几何不清晰度(c)
  a.与工件厚度成正比,与焦点尺寸成反比 b.与工件厚度成反比,与焦点尺寸成反比;
  c.与焦点尺寸成正比,与焦距成反比 d.与焦点尺寸成反比,与焦距成正比
  362.改善透照底片的几何不清晰度可采用(a)a.小焦点、大焦距透照 b.小焦点、小焦距透照 c.选细微粒胶片 d.铅箔增感
  363.下述哪一项不是改变底片几何不清晰度的因素?(c)a.射源至底片距离 b.焦点大小 c.底片的黑度 d.试件厚度变化
  364.下面哪种方法是用于改善几何不清晰度?(a):a.增大焦距 b.减少焦距 c.选用较高能量 d.选用较低能量
  365.在相同检测条件下,同一缺陷所在试件位置越靠近底片侧时,则(d)
  a.其影像放大得越大,而其几何不清晰度变大 b.其影像放大得越小,而其几何不清晰度变大
  c.其影像放大得越大,而其几何不清晰度变小 d.其影像放大得越小,而其几何不清晰度变小
  366.RT法规对照相距离有最低限制的原因是基于控制(a):a.几何不清晰度 b.散射 c.底片对比度 d.工件对比度
  367.X射线探伤中对胶片的选择主要考虑哪些因素?(d)
  a.被检件的材质 b.X射线机的电压范围 c.被检件的厚度 d.以上都是
  368.为了提高曝光的经济效果,用快速胶片代替慢速胶片,但这样会带来什么后果?(c)
  a.对胶片必须经过严格处理 b.必须提高底片的清晰度 c.降低了图像分辨能力 d.需配制特殊的显影剂
  369.投射到胶片单位面积上的射线辐照量是(c)
  a.单位时间的射线强度 b.与强度成反比,而与时间成正比的量
  c.射线辐照强度与时间的乘积 d.随时间按指数变化的与强度成反比的量
  370.下列因素中对底片图像密度没有明显影响的是(b)
  a.所使用胶片的型号 b.胶片的尺寸 c.增感屏的增感作用 d.所发出的射线强度
  371.应用几何原理的原则是(d)
  a.选取尺寸尽量大的射线源 b.射线源到被透照工件的距离尽可能小
  c.胶片离被透照工件尽可能远 d.中心射线尽可能垂直于胶片平面
  372.可以充分显示在射线底片上的工件厚度范围称作(b):a.灵敏度 b.宽容度 c.精确度 d.强度
  373.从可检出最小缺陷尺寸的意义上说,射线照相灵敏度取决于(d)
  a.胶片粒度 b.底片上缺陷影像的不清晰度 c.底片上缺陷影像的对比度 d.以上都是
  374.决定可检出缺陷在射线透照方向最小尺寸的是影像的(a):a.对比度 b.不清晰度 c.颗粒度 d.以上都是
  375.为了获得高清晰度的射线图像,在X射线机一定,即焦点尺寸一定,而且保证射线能量能够正常穿透的情况下,射线束朝向工件的方向和射线源到胶片的距离应(b)
  a.尽可能垂直于胶片,距离尽可能短 b.尽可能垂直于胶片,距离尽可能大
  c.尽可能倾斜于胶片,距离尽可能短 d.尽可能倾斜于胶片,距离尽可能大
  376.为了要摄取一张高衬度、高清晰度的X射线底片,一般应采用(b)
  a.大焦点、近距离 b.小焦点、较长的焦距 c.高管电压、低管电流 d.低管电压、高管电流
  377.下述哪个句子的叙述是正确的?(a)
  a.只要不超出几何不清晰度的允许值,应使焦距尽可能短 b.只要不超出几何不清晰度的允许值,应使焦距尽可能长
  c.若是仅考虑高清晰度,则焦距应尽可能地短 d.为了保证穿透,焦距应尽可能短
  378.下述哪个句子的叙述是正确的?(a)
  a.若仅从清晰度高的需要出发,应使焦距尽可能长 b.只要不超出几何不清晰度的允许值,应使焦距尽可能长
  c.若仅从清晰度高的需要出发,应使焦距尽可能短 d.为了保证X射线能穿透工件,焦距应尽可能短
  379.在探测一定厚度的试件时,一般射源至胶片的距离与射源的有效直径是一定的,此时应取工件哪一部位至胶片的距离才能正确表示最不利部位的几何不清晰度?(a):a.表面 b.底面 c.厚度1/3处 d.厚度1/2处
  380.未曝光底片的储存应远离放射线,还需要考虑(d):a.温度 b.湿度 c.有效期限 d.以上都是
  381.220KV的X射线,对钢和铜进行射线照相,两者的厚度当量系数为1比1.4,若以12mm厚的铜板进行射线照相时的曝光条件,对钢进行射线照相,则此钢板的厚度应该是多少?(c):a.6mm b.34mm c.16.8mm d.25mm
  382.220KV的X射线,对钢和铜进行射线照相,两者的厚度当量系数为1比1.4,若以28mm厚的钢板进行射线照相时的曝光条件,对铜进行射线照相,则此铜板的厚度应该是多少?(a):a.20mm b.34mm c.16.8mm d.25mm
  383.拍摄具有厚薄差异的试件时,为了同时得到不同厚薄处具有相同密度的底片,一般可采取什么方法?(c)
  a.荧光增感屏法 b.在暗盒内同时装有两张重叠的相同胶片
  c.在暗盒内同时装有两张具有不同感光速度的胶片 d.双壁摄影法
  384.用40KV或50KV的X射线对同一工件照相,两次摄影所获得的结果有什么差异?(b)
  a.40KV曝光时,衬度高,曝光范围比50KV时大 b.50KV曝光时,衬度低,曝光范围比40KV时大
  c.40KV曝光时,衬度较低,曝光范围比50KV时大 d.50KV曝光时,衬度高,曝光范围比40KV时大
  385.用X射线进行照相时,如果要增加射线强度,应该(c):a.降低管电压 b.减少管电流 c.增加管电流 d.加长焦距
  386.下列各项中,在X射线照相中确定透照电压时必须遵守的规定是(d)
  a.透照电压应尽可能低 b.透照电压应与透照厚度相适应 c.透照电压不应超过允许的最高值 d.以上都是
  387.下列情况中导致互易定律失效的是(c)
  a.胶片直接受射线照射曝光 b.采用铅箔增感屏 c.采用荧光增感屏 d.以上都是
  388.对环焊缝作源在外的单壁透照时,确定透照次数与(d)相关
  a.透照厚度比、工件外径、工件壁厚 b.工件外径、透照厚度比、射线源与工件表面距离
  c.工件壁厚、透照厚度比、工件外径、射线源与工件表面距
  d.透照厚度比、工件壁厚/工件外径、工件外径/射线源与工件表面距离
  389.对一直径较大的工件环焊缝透照,下列方法中透照次数最多的是(a)
  a.源在外单壁透照 b.源在外双壁透照 c.源在内单壁透照 d.无法确定
  390.对直径较大的工件环焊缝透照,下列方法中应优先选用的是(c)
  a.源在外单壁透照 b.源在外双壁透照 c.源在内单壁透照 d.无法确定
  391.下列各项中决定双壁透照双壁成像(椭圆成像)时射线源偏移距离的因素是(d)
  a.透照厚度比 b.有效透照区 c.射线束照射角 d.焊缝热影响区宽度
  392.在一次椭圆成像透照中存在的主要困难是(a)
  a.透照厚度比变化大 b.射线照射角变化大 c.有效透照长度变化大 d.以上都是
  393.对变截面工件一般适宜采用的透照方法是(a)
  a.适当提高管电压 b.适当提高管电流 c.适当缩短曝光时间 d.适当降低管电压
  394.对容器作源在外双壁透照时,焦距越大,有效透照区(b)
  a.越大 b.越小 c.焦距变化不影响有效透照区大小 d.以上都不对
  395.环焊缝透照时,有效透照长度相关于(d):a.外径与壁厚 b.焦距 c.壁厚与外径之比 d.b和c
  396.小直径管椭圆成像透照时应注意的重要特点是(c)
  a.射线源偏移距离不易确定 b.曝光量不易确定 c.透照区内透照厚度变化大 d.以上都不是
  397.对环焊缝X射线照相,在可能的情况下,最好采取(b)的透照方法
  a.源在外的双壁透照双壁成影 b.射线源置环缝中心作周向曝光 c.射线源置环缝内偏心曝光 d.以上都是
  398.对环焊缝X射线照相,源在外的双壁透照,有效透照长度与焦距的关系是(a)
  a.焦距越大,有效透照长度越小 b.焦距越大,有效透照长度越大 c.焦距等于工件直径时有效长度最小
  399.对环焊缝X射线照相,源在外的双壁透照,有效透照长度与焦距的关系是(c)
  a.焦距越大,有效透照长度越小 b.焦距等于工件直径时有效长度最大 c.以上都对
  400.对环焊缝X射线照相,源在外的单壁透照,有效透照长度与焦距的关系是(b)
  a.焦距越大,有效透照长度越小 b.焦距越大,有效透照长度越大 c.焦距等于工件直径时有效长度最大
  401.对环焊缝X射线照相的方法有(e)
  a.源在外单壁透照 b.源在外双壁透照 c.源在内周向单壁透照 d.源在内偏心单壁透照 e.以上都是
  402.对小直径管环焊缝X射线照相的方法是(b)
  a.双壁单影 b.双壁双影 c.周向曝光 d.源在内偏心单壁透照 e.以上都是
  403.对截面厚度不均匀的工件,除了可以按不同厚度分别透照外,如果厚度变化范围在适当范围内,也可以进行一次透照,经常采用的方法是(d):a.双胶片或多胶片技术 b.适当提高透照电压 c.采取补偿 d.以上都是
  404.选用透照参数时的基本原则是(d)
  a.X射线透照电压不能高于设备允许的最高透照电压 b.焦距应大于规定的焦距最小值
  c.曝光量应不小于所推荐的最小值 d.以上都是
  405.在确定射线照相的透照参数时,必须综合考虑(a)对影像质量的影响
  a.能量、焦距、曝光量 b.管电压、管电流、曝光时间 c.管电压、管电流、焦距 d.管电流、曝光时间、焦距
  406.400KV的X射线对钛与钢的射线照相等效系数分别为0.71和1.0,现用此能量的X射线透照厚度70mm的钛饼坯,应用相当于多厚的钢的曝光量?(c):a.40 b.45 c.50 d.60
  407.已知某品牌的便携式X射线机(300KV,6mA)的穿透能力可达到69mmFe,已知300KV的X射线对钛合金与钢的射线照相等效系数分别为0.6和1.0,则要透照90mm厚的钛合金饼坯,该X射线机能否胜任?(a)
  a.可以胜任 b.已达到该X射线机的能力最高值,不宜使用 c.无法确定 d.以上都不对
  408.实践经验中通常采取不要超过X射线管最大KV值的90%以上工作,是为了延长(d)的工作寿命
  a.射线管 b.变压器 c.接头和控制装置 d.以上都是
  409.两台同一厂家生产的同一型式的X光机,对同一物体作相同条件之曝光(mA、KV、曝光时间等均相同),则(d)
  a.将会产生相同强度与品质的辐射线 b.将会产生相同强度、品质不同的辐射线
  c.将会产生不同强度、相同品质的辐射线 d.辐射强度与品质均不同
  410.对外径在3.5英寸以下管线环焊缝作100%射线照像检测时(a)
  a.椭圆投影,至少相隔90°两次照像,双壁看片 b.椭圆投影,至少相隔180°两次照像,双壁看片
  c.一次椭圆投影,双壁看片 d.以上都可以
  411.有一8英寸管,外径8.625英寸,欲作圆周100%射线检测,应选用何种长度底片最经济?(d)
  a.8.5英寸底片三张,双壁照相单壁看片 b.8.5英寸底片两张,双壁照相双壁看片
  c.8.5英寸底片四张,双壁照相单壁看片 d.12英寸底片三张,双壁照相单壁看片
  412.有一试件中间部分薄,四周厚,射线检测时要使此两部分均达所要求的黑度与品质,则应(d)
  a.不同厚度分别照相 b.在射源与试件之间加一适当的滤板 c.装两张不同速度的底片一次照相 d.以上都可以
  413.某试件经两次射线照相,除照射时间不同,其他条件均相同,量出第一次黑度最小为1.3,第二次最小为2.5,黑度最高均低于4.0,以下叙述中正确的是(b)
  a.第一次较易检出缺陷 b.第二次较易检出缺陷 c.对于缺陷检出力无法比较 d.以上都对
  414.X射线检测时,对物件的穿透力是由(c)决定的:a.射源至底片的距离 b.曝光时间 c.KV XXXX
  415.射线照像影像会放大,下面叙述中正确的是(c)
  a.射源至试件距离越远,影像放大得越大 b.射源至试件的距离与试件至底片距离之比越大,影像放大得越大
  c.射源至试件的距离与试件至底片距离之比越小,影像放大得越大 d.射源至试件的距离与影像放大无关
  416.射线照像是以射线穿透试件而投影在底片上的,因此影像轮廓会(d):a.放大 b.变形 c.模糊 d.以上都对
  417.当其他操作条件不变,管电流的变化会引起X射线管发生的射线强度变化,其变化大致与管电流的变化成比例,是什么因素影响管电流与射线强度完全按比例变化?(b)
  a.波长变化不完全成比例 b.管电压和X射线设备的电压波形随负载发生变化
  c.电流在线性比率上才能改变 d.散射线不能按比率变化
  418.使用黑度计应(c):a.先调整零点 b.经常用已知黑度的底片校准 c.以上都对 d.以上都错
  419.为了保护X射线管的使用寿命,每次使用时应先(b)
  a.设备接地 b.按制造厂家的规定程序训机 c.用探测仪探测辐射量并测定管制区 d.以上都对
  420.使用底片套(底片暗匣)时应注意(d):a.清洁 b.防潮 c.防止破损 d.以上都对
  421.下列叙述中正确的是(d)
  a.为了工作方便,底片与增感屏同装在底片套内时,每次可多装一些,以后慢慢取用
  b.与增感屏同装在一起的底片有增感屏保护,在较高温度下也没有关系
  c.有增感屏保护,可防止底片受潮 d.以上都不对
  422.当射源(或焦点)尺寸一定时,被透工件的缺陷尺寸越小,则(b)
  a.影像放大率Mf数越小,因而缺陷越难发现 b.影像放大率Mf数越大,而缺陷越难观察
  c.形状修正系数σ越大,因而缺陷检出率越低 d.以上都不是
  423.在射线底片上,使缺陷影像发生畸变最重要的原因是(d)
  a.射源尺寸 b.射源到缺陷的距离 c.缺陷到胶片的距离 d.缺陷相对于射源和胶片的位置和方向
  424.下面关于几何修正系数σ的叙述,哪一条是错误的?(d)
  a.当缺陷尺寸小于射源尺寸时,才需要引入σ对底片对比度进行修正 b.σ值越小,几何条件对底片对比度的影响越大
  c.为提高σ值而改变透照布置,常用的方法是增大焦距 d.为提高底片对比度,应尽量采用σ>1的透照布置
  425.若散射线忽略不计,当透照厚度的增厚量相当于1/2半价层时,则胶片接受的照射量将减少百分之几?(d)
  a.25 b.70 c.41 d.30
  426.若散射线忽略不计,当透照厚度的减薄量相当于1/3半价层时,则胶片接受的照射量将增加百分之几?(c)
  a.12.5 b.74 c.26 d.37.5
  427.下列哪个因素的变化最会使射线底片上象质计金属丝影像的最小可见对比度增大?(b)
  a.粗粒胶片改为微粒胶片 b.底片黑度从1.5增大到3.0;
  c.影像宽度从0.2mm增大到0.3mm d.底片透射光的亮度从30cd/m2增大到100cd/m2
  428.下列哪一因素对底片颗粒无明显影响?(b)a.显影程度 b.使用铅增感屏 c.射线穿透力 d.使用荧光增感屏
  429.对于厚度差较大的工件进行透照时,为了得到黑度和层次比较均匀的底片,一般的做法是(b)
  a.提高管电流 b.提高管电压 c.增加曝光时间 d.缩短焦距
  430.评价底片照相质量的主要因素是(e): a.底片黑度 b.底片灰雾度 c.底片几何不清晰度 d.底片的灵敏度 e.以上全是
  433.环缝中心法内透照的优点是(d)
  a.透照距离不变,透照厚度均一,所得底片黑度,灵敏度也均一,成像质量优于其他透照方式
  b.对焊缝中横向缺陷的检查率最高
  c.一次曝光就能完成整条环缝的透照,检测效率高 d.以上都是
  434.为增大工件透照厚度范围(增大厚度差),可采用以下办法(d):a.提高管电压 b.采用滤波板 c.提高曝光量 d.a和b
  435.透度计金属丝的几何因素修正系数σ随几何间距与金属丝直径φ'/φ的急剧增大而急剧地(a)
  a.减小 b.增大 c.不变 d.以上都不对
  436.要想得到良好的射线照相品质,则(d)
  a.射源越小越好 b.射源离试件越远越好 c.底片离试件越近越好 d.以上都对
  437.对于吸收射线的等值因素,有(a):a.碳钢与不锈钢相同 b.碳钢高于不锈钢 c.碳钢低于不锈钢 d.不一定
  438.在对焊道进行RT之前,下列哪些需要先做处理?(d):a.焊渣 b.凹陷、咬边 c.加强高过高 d.以上都是
  439.X射线的穿透能力是由下面哪个参数所控制?(a):a.管电压或波长 b.管电流 c.时间 d.焦距
  440.底片在规定的可用黑度范围内时,一般黑度较高则(a)
  a.对比度较佳 b.对比度较差 c.与对比度无关 d.黑度高低不同的对比度都一样
  441.下列哪种因素会对未经显影的底片有害?(d):a.安全灯 b.化学污染 c.压力 d.以上都会
  442.电焊焊道射线检测中,焊冠及背面套板不能磨平时,在像质计下面应置何物?(c)
  a.铅增感屏 b.铅字 c.与被照物相同射线吸收系数材料的垫片 d.以上都是
  443.厚度15mm的不锈钢件,欲求较好的RT品质,射源宜选择(a)
  a.250KV X光机,管电压160KV b.300KV X光机,管电压300KV c.2.5MeV X光机,电压1.5MeV d.192Ir
  444.X射线检测时选择适当底片的考虑依据是(d):a.试件厚度与材质 b.增感屏 c.射源能量 d.以上都是
  445.线条型透度计上的线条主要是度量(c):a.黑度 b.对比度 c.清晰度 d.感光速率
  446.射线照相时,位置记号铅字一般情况下均置于(b):a.底片套上 b.工件上面 c.透度计上 d.垫片上
  447.射线照相使用铅字的目的是(d):a.标示照相位置 b.标示照相日期 c.标示照相厚度 d.以上都是
  448.某铸件有多种不同厚度,其厚度相差不大,均在30-40mm的范围内,欲对该铸件一次单片照相,能在底片上一次判读该铸件各不同厚度下的品质,应选用那种射源较适当?(b)a.钴60 b.300KVP的X光机,电压调在280KV附近
  c.300KVP的X光机,电压调在250KV附近 d.250KVP的X光机,电压调在240KV附近
  449.下列哪项能改善底片影像颗粒太粗的问题?(b)
  a.选用感光较慢底片及射线穿透力强 b.选用感光较慢底片及射线穿透力弱
  c.选用感光较快底片及射线穿透力强 d.选用感光较快底片及射线穿透力弱
  450.有一厚薄阶梯型工件射线检测时,要使此两部分均达到所要求的黑度与照相质量,则应(d)
  a.不同厚度分别照相 b.在工件薄厚度部分加厚度补偿 c.装两张不同速度的胶片一次照相 d.以上都可以
  451.RT底片欲得较真实的缺陷尺寸则应(b)
  a.缩小射线至底片的距离,且将底片紧贴试件 b.增加射线至底片的距离,且将底片紧贴试件
  c.缩小射线至底片的距离,且将底片远离试件 d.增加射线至底片的距离,且将底片远离试件
  452.大晶粒金属零件射线照相时,用什么方法可以减轻衍射斑点的影响?(c)
  a.提高管电压并使用荧光增感屏 b.降低管电压并使用铅箔增感屏
  c.提高管电压并使用铅箔增感屏 d.降低管电压并使用荧光增感屏
  453.通常在透照哪些材料时容易产生衍射斑点?(d)
  a.较薄的大晶粒重元素合金铸件 b.镍基高温合金铸件 c.铸造单晶叶片 d.以上都是
  454.对于包括轴、圆棒类、厚壁小孔圆管等圆形截面工件的透照,为了减少厚度差的影响,简单有效的方法是(d)
  a.制作专用托座 b.制作专用夹具 c.补偿物法 d.使用滤波板
  455.几何因素不适当、胶片和铅箔增感屏接触不良以及胶片粒度大小将可能造成(b)
  a.底片黑度过高 b.清晰度不好 c.底片灰雾度大 d.底片黑度过低
  456.平板工件X射线照相,若透照厚度比满足1.1,则透照一次的有效长度可用(a)式计算
  a.L=2(0.21)1/2F b.F=2(0.21)1/2L c.L=2(0.21F)1/2 d.L=(0.21)1/2F (式中:L-透照有效长度;F-焦距)
  45
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虎哥作者
10年7个月前
3楼

管型
TYPE
结构类别
STRUCTURE
灯丝
FILAMENT
外形尺寸
PHYSICAL DIMENSION
最大额定值
MAX RATING
电压(V)
VOLTAGE
电流(A)
CURRENT
最大高度(mm)
MAX HEIGHT
最大直径(mm)
MAX DIAMETER
输出功率(KW)
OUTPUT POWER
阳极电压(V)
ANODE VOLTAGE
阳极热容量(KJ)
ANODE HEAT
STORAGE CURRENT
XD4-2、9/100固定阳极X光管
STATIONARY ANODE
X-RAY TUBE
5.5/114.5/4.5247602/910060
XD6-1.1、3.5/100固定阳极X光管
STATIONARY ANODE
X-RAY TUBE
4.3/7.84.5/4.5180501.1/3.57035
XD7-1.05/35固定阳极X光管
STATIONARY ANODE
X-RAY TUBE
4.24148551.053535
XD8-0.1/70固定阳极X光管
STATIONARY ANODE
X-RAY TUBE
31.580260.1704
XD9-4/100固定阳极X光管
STATIONARY ANODE
X-RAY TUBE
7.5414750410040
XD12-0.56/70固定阳极X光管
STATIONARY ANODE
X-RAY TUBE
3.5273310.561007
XD51-6、20/125旋转阳极X光管
ROTATING ANODE
X-RAY TUBE
7/95.5/5.52501086/20125100
XD51-10、40/125旋转阳极X光管
ROTATING ANODE
X-RAY TUBE
9/135.5/5.525010810/40125300
XD55-10/100旋转阳极X光管
ROTATING ANODE
X-RAY TUBE
74.5212781010044
XD51-17/125
RAD4
旋转阳极X光管
ROTATING ANODE
X-RAY TUBE
75.525010817125212
XD51-20、40/100旋转阳极X光管
ROTATING ANODE
X-RAY TUBE
8/135.5/5.525010820/40100100
XD51-20、40/125
RAD74
旋转阳极X光管
ROTATING ANODE
X-RAY TUBE
8/135.5/5.525010820/40100100
XD51-22、47/125旋转阳极X光管
ROTATING ANODE
X-RAY TUBE
9/135.5/5.524610822/47125110
XD52-10、40/125旋转阳极X光管
ROTATING ANODE
X-RAY TUBE
8/135.5/5.526512010/40125140
XD52-10、40/150旋转阳极X光管
ROTATING ANODE
X-RAY TUBE
8/135.5/5.526512010/40150140
XD52-20、40/125旋转阳极X光管
ROTATING ANODE
X-RAY TUBE
9/135.5/5.526512020/40125140
XD52-20、40/150旋转阳极X光管
ROTATING ANODE
X-RAY TUBE
9/135.5/5.526512020/40150140
XD52-30、50/125旋转阳极X光管
ROTATING ANODE
X-RAY TUBE
9/135.5/5.526512020/40125140

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虎哥作者
10年7个月前
4楼
国外爱好者制作的伦琴射线观象仪。
rtg826.jpg

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rtg822.jpg
rtg823.jpg
rtg824.jpg
rtg825.jpg


rtg809.jpg
rtg811.jpg
  以上图片转自XXXXXXXXXXX
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joyeep
10年7个月前
5楼
很想买X 管,这个哪有卖,我要买一只
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diy患者
10年7个月前
6楼
自制的X照出来的东西这么清晰呀。佩服。
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diy患者
10年7个月前
7楼
伦琴死于手癌,居里夫人死于白血病,科学是有风险的呀。不过话说回来了,谁又能不死呢,为科学而献身,或许在死亡方式中也算比较不错的了,用生命提醒了后人,这东西危险。
+1
科创币
jrcsh
2011-05-20
1  爱惜生命 注意小命一条
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joyeep
10年7个月前
8楼
图中的X管,哪有卖,找过几家网店,均没有发现,难道这个属于管制对象?
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juggernaut
10年7个月前
9楼
医院的设备科会有这种东西吗?应该是X光机的重要部件吧?(仅为外行的看法)
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虎哥作者
10年7个月前
10楼
引用第8楼joyeep于2011-05-20 09:27发表的  :

图中的X管,哪有卖,找过几家网店,均没有发现,难道这个属于管制对象?


淘宝和阿里巴巴搜索X光[空格]球管,有几家卖。找卖X光机的店,一般有配件。但是那种小玻璃管比较难找,可以联系东方电子管厂这类厂家买。这个东西并未管制,主要是用量少,医院的X光机一般都由厂家维护,不需要买管子自己换。
如果找不到二手积压管子,新管子暴贵。
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jrcsh
10年7个月前
11楼
我想起了 B超能用不
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虎哥作者
10年7个月前
12楼
X射线机操作规程
1.    适用范围:
本规程适用于额定管电压小于等于300KV X射线探伤机操作使用。
2.    人员要求
2.1 X射线探伤机操作人员都应经过专业培训,并持有国家质量技术监督局的Ⅰ级或Ⅰ级以上的射线检验人员资格证书;
2.2 X射线探伤机操作人员应熟悉所用设备的基本结构、性能、各部分作用及相关安全知识;
2.3 X射线探伤机操作人员应严格按照本程序操作X射线探伤机,并对设备使用的安全性负责。
3.操作步骤
3.1开机前的准备工作
1.检查X射线探伤机操作箱和机头,无任何损坏痕迹以及安装螺丝脱落、电线破损,方可接上电源。使用条件不符合无损检测仪器说明书要求时,不得使用.
2.根据试件的材料和厚度选取合适的曝光条件。控制探伤曝光条件时,必须严格符合设备性能要求  探伤机定位后,必须与相应定位工具固定栓紧,以免颠翻跌落
3.2开机顺序
1.将X光机出射窗口对准被检工件,注意集光罩与工件被检部分方向一致。
2.用对焦器调整X光机集光罩对准焊缝中心及两者的焦距。探伤机定位后,必须与相应定位工具固定栓紧,以免颠翻跌落。
3.打开控制器电源开关,电源灯亮,冷却风机旋转,显示“dd”,约10秒钟后显示“AA”,扬声器发出连续响声3秒,表示控制器工作基本正常。如发现不正常应立即切断电源,并且及时通知设备部。
4.预置透照时间:调节计时器至所需的曝光时间的位置。
5.预置透照电压:调节千伏码盘至所需管电压的位置。
6.按下高压按钮。
3.3注意事项:
1.X光机在第一次使用或一段时间未使用时,X光机灯管必须按规定进行训机一次,方可正常使用。
2.开始曝光后,禁止再次调节计时器。
3.X光机注意不受剧烈振动,搬运时注意不要与它物碰撞。
3.4正常关机步骤
1.达到规定曝光时间后,机器自动切断高压输出。
2.关闭电源开关,拨下电源电缆和高压电缆。
3.将各部件按规定整理好以备下次使用。
3.5紧急停机
    紧急停车是在X光机发生异常情况或发现有其他人员进入射线作业区,如果设备继续运行势必危及设备及人身安全时采取的紧急措施。能不作紧急停机的,应尽量避免,紧急停机步骤如下:
1.按下红色关机按钮,切断高压输出。
2.切断电源开关。
3.检查并排除故障。
4.作好故障记录。
4.记录
每次使用后操作人员应做好清洁工作,并认真检查探伤机是否处于
安全位置。填写设备运行记录。
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虎哥作者
10年7个月前
13楼
其它资料,厂家提供的。
attachment icon 日本RF-250-300EGM2型X射线机使用说明书.pdf 3.33MB PDF 66次下载 预览

attachment icon 上海牌工业X光片使用指南.doc 601.00KB DOC 26次下载

attachment icon DDR低剂量数字化X光机.pdf 1.50MB PDF 92次下载 预览
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zzl7666
10年7个月前
14楼
可以用来看挂挂奖啊[s:243]
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cichol
10年7个月前
15楼
最近也在找Xray管
淘宝上都找不到
二手的在矿坛看到个620的
新管子在阿里巴巴那里要6k+

不过看到外国的一些文章
他们是在真空管的外壁贴靶级
能放出Xray
这是那篇文章的地址
XXXXXXXXXXXXXXXXXXX/science/x-ray/stong/
估计放假的时候试制一个

想用真空白炽灯做阴极发射电子。。
不过不知行不行
白炽灯真空度比X光管少两个0。。。
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dr-sama
10年7个月前
16楼
x-ray_burn_-_hand[1].jpg
其实我想弄X-ray很久了...但一直忌惮于它的危险..请大家不要忽视X-ray对身体的伤害,这是一个外国青年的手,你们可以注意到他的颜色很奇怪.据说这就是高强度的X-ray的杰作.医生对他的手进行了截肢,但无法控制可能因此产生的癌症.
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cichol
10年7个月前
17楼
发生器3面用铁板屏蔽
单向发射 应该没问题
高能射线反射率很低
不过就算我能做出来
功率应该也低得不能再低了。。
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gpgysb
10年6个月前
18楼
x线比较专业,请首先懂的防护,供电,接地线,控制:kv ma.s然后在专业指导下实践
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关森陌
10年6个月前
19楼
希望虎哥能给出此帖所说的外国网的网址。
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拔刀斋
10年6个月前
20楼
引用第16楼dr-sama于2011-05-21 01:47发表的  :
x-ray_burn_-_hand[1].jpg
其实我想弄X-ray很久了...但一直忌惮于它的危险..请大家不要忽视X-ray对身体的伤害,这是一个外国青年的手,你们可以注意到他的颜色很奇怪.据说这就是高强度的X-ray的杰作.医生对他的手进行了截肢,但无法控制可能因此产生的癌症.

得要多大的管子才能照成这样
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xenon
10年5个月前
21楼
虎哥我深为你的健康感到担忧居然没有任何防护屏蔽措施(顺带一提球管的话淘宝貌似有卖)
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虎哥作者
10年5个月前
22楼
这是资料贴,楼上怎么看出我没采取措施的?

顺便说一下,前面国外爱好者拍片那个,我查了荧光屏的型号,是柯达公司的普通感绿中速增感屏。
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szsbw2008
10年1个月前
23楼
发生器四周用铅板屏蔽,前端垂直开个口,光源摆放距离还要看光源焦斑的大小[s:230]
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LND712
2个月16天前
24楼
引用joyeep发表于5楼的内容
很想买X 管,这个哪有卖,我要买一只

我有,你要吗

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JoeyBoy
2个月0天前
25楼

挖坟。内啥,虎哥,这不是特斯拉线圈板块吗?发错地方了吧。

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虎哥作者
2个月0天前
26楼

十几年来专业经过多次合并分立,不用大惊小怪。

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1个月29天前
27楼

说点个人的建议,不知道是否现实。如果可以的话,建议科创加一个类似于索引或者目录的功能,对于这种内容比较多篇幅比较长的文章,如果能在文章开始做一个目录并且点击相关标题时时可以跳转到相应位置,会方便好多(尤其是对手机端),同时如果回复帖里那些限于篇幅没有放在主贴的内容或者对主贴遗漏事项的补充内容也可以由楼主/层主汇总并放在主帖的目录里就更好了,这样方便按照需求查看帖子内容

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2005/08/24注册,1 小时前活动

刘 虎

创新工程局主席

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